[发明专利]一种模拟金手指接口氧化导致硬件错误的测试方法及装置有效
申请号: | 201710833774.6 | 申请日: | 2017-09-15 |
公开(公告)号: | CN107817438B | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 张明利 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/3167 | 分类号: | G01R31/3167 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 张亮 |
地址: | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 模拟 手指 接口 氧化 导致 硬件 错误 测试 方法 装置 | ||
本发明提供了一种模拟金手指接口氧化导致硬件错误的测试方法及装置,将氧化金属液体和非金属液体涂抹在硬件的金手指上,模拟硬件氧化短路和断路,然后对硬件氧化短路、硬件氧化短路进行诊断,本发明使用氧化金属液体和非金属液体替代金手指长期氧化形成的氧化层,在用户真实使用的环境中复现长期氧化导致的硬件错误现象,保证测试结果更加真实准确。
技术领域
本发明涉及测试的技术领域,具体涉及一种模拟金手指接口氧化导致硬件错误的测试方法及装置。
背景技术
通常硬件测试模拟硬件错误都是采用输入指令给CPU,再观察指令导致的错误代码,这种测试方法只是测试服务器对于硬件错误有反应的机制,并非真实的再现用户使用中产生的硬件错误。因此,在现有技术中需要一种测试方法来实现用户使用中的环境,以及对经过长期氧化导致的短路及断路现象复现。
发明内容
基于上述问题,本发明提出了一种模拟金手指接口氧化导致硬件错误的测试方法及装置。
本发明提供如下技术方案:
一方面,本发明提供了一种模拟金手指接口氧化导致硬件错误的测试方法,包括:
步骤101,将氧化金属液体涂抹在硬件的金手指上,模拟硬件氧化短路;
步骤102,将非金属液体涂抹在硬件的金手指上,模拟硬件氧化断路;
步骤103,对硬件氧化短路和/或硬件氧化短路进行诊断。
其中,所述氧化金属液体为含有二氧化钛和/或硫酸铜的液体。
其中,所述氧化金属液体为修正液,所述非金属液体为油漆或硅脂。
其中,将氧化金属液体涂抹在硬件的金手指上具体为:将氧化金属液体涂抹覆盖于两条金手指的缝隙。
其中,将非金属液体涂抹在硬件的金手指上具体为:将非金属液体涂抹覆盖至少一条金手指。
另外,本发明还提供了一种模拟金手指接口氧化导致硬件错误的测试装置,所述装置包括:
短路模块,用于将氧化金属液体涂抹在硬件的金手指上,模拟硬件氧化短路;
断路模块,用于将非金属液体涂抹在硬件的金手指上,模拟硬件氧化断路;
诊断模块,用于对硬件氧化短路和/或硬件氧化短路进行诊断。
其中,所述氧化金属液体为含有二氧化钛和/或硫酸铜的液体。
其中,所述氧化金属液体为修正液,所述非金属液体为油漆或硅脂。
其中,将氧化金属液体涂抹在硬件的金手指上具体为:将氧化金属液体涂抹覆盖于两条金手指的缝隙。
其中,将非金属液体涂抹在硬件的金手指上具体为:将非金属液体涂抹覆盖至少一条金手指。
本发明提供了一种模拟金手指接口氧化导致硬件错误的测试方法及装置,将氧化金属液体和非金属液体涂抹在硬件的金手指上,模拟硬件氧化短路和断路,然后对硬件氧化短路、硬件氧化短路进行诊断,本发明使用氧化金属液体和非金属液体替代金手指长期氧化形成的氧化层,在用户真实使用的环境中复现长期氧化导致的硬件错误现象,保证测试结果更加真实准确。
附图说明
图1是本发明的方法流程图。
图2是本发明的装置结构框图。
具体实施方式
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