[发明专利]光口测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及通讯技术领域，尤其涉及一种用于测试通信设备的光口状态与功能的测试装置。

背景技术

现有的技术中，进行光口测试时大多使用光模块与光纤线进行测试，高昂的光模块与光纤线，增加了测试时的成本。同时，由于光模块与光纤线为分离部件，当需要测试的光口数量较多时，需要人工不断做插拔动作，在此过程中耗费较多的时间，进而降低了测试效率。

目前，一些用于通信设备的光口测试的光口测试工装，采用了取缔光模块的模拟测试方法，解决了测试需要使用光模块的问题，但由于这种光口测试工装的测试端口数量是固定的，然测试现场中所需测试的通信设备的光口数量往往不确定，因而，单一数量测试端口的测试工装无法满足对不同数量的光口测试，为实现测试，往往需要准备多个具有不同数量测试端口的测试工装，不便于光口测试。同时，准备多个具有不同数量测试端口的测试工装进一步增加了测试成本。

举例而言，现有技术的光口测量工装中，就有一种由托架和安装在托架上的包含测试电路的PCB板构成的测试工装，其一次能测试一组光口，比如6个光口，如若想测试不同数量的光口，则需要提供新的光口测试工装，故测试效率低，使用不灵活。

发明内容

鉴于上述内容，有必要提供一种测试效率高且能够同时测试不同光口数量的光口测试装置。

本发明提供一种光口测试装置，包括：固定架；PCB板，装设于所述固定架上，所述PCB板集成设有光口测试电路；第一测试端口和第二测试端口，分别设置于所述PCB板，并能够分别连通于通信设备的光口上，以使所述光口测试电路对所述光口的工作状态进行测试。

优选地，所述PCB板包括：第一延伸臂和第二延伸臂，所述第一测试端口和所述第二测试端口分别对应设于所述第一延伸臂和所述第二延伸臂。

优选地，所述第一延伸臂和所述第二延伸臂并排间隔设置，且二者之间形成有第一间隙和第二间隙。

优选地，所述第一间隙的大于所述第二间隙。

优选地，所述PCB板上设有第一螺丝孔、第二螺丝孔及第三螺丝孔，所述固定架对应设有第一螺柱、第二螺柱及第三螺柱，每一个螺丝孔与对应的螺柱配合，以将所述PCB板与所述固定架固定连接。

优选地，所述固定架的截面呈U型，其包括底板及两个侧壁，两个所述侧壁分别固定于所述底板的两个相对边。

优选地，所述PCB板收纳于两个所述侧壁之间。

优选地，每一个所述侧壁上设有具有斜面结构的斜坡。

优选地，所述光口测试电路包括：两个测试单元，分别通过所述第一测试端口和所述第二测试端口与所述通信设备的光口连通，以用于分别对所述通信设备的光口的信号状态进行测试。

优选地，每一个所述测试单元包括：I2C设备，其通过所述第一测试端口和所述第二测试端口分别连接所述通信设备的光口上的TX_FAULT、TX_DISABLE、MOD_ABS、RX_LOS、RS0、RS1信号；指示灯，连接于I2C设备，以用于指示所述光口测试装置对上述信号的测试状态。

优选地，通过I2C总线访问所述I2C设备，查看寄存器，了解此时TX_FAULT、TX_DISABLE、MOD_ABS、RX_LOS、RS0、RS1信号的状态；或/及，通过I2C控制所述指示灯，如果所述指示灯可点亮，则所述I2C总线通讯正常，则确定所述光口测试装置可正常使用。

优选地，所述光口测试电路还包括：两个负载单元，分别通过所述第一测试端口和所述第二测试端口与所述通信设备的光口连通，以用于模拟光模块的功耗。

优选地，每一个负载单元由两个电阻并联而成。

优选地，每一个负载单元采用两个15R/1W的电阻并联而成。

优选地，在所述光口测试装置进行光口测试过程中，所述通信设备的两个光口的数据可通过TD+/-、RD+/-的差分数据线互联，达到数据交换的目的，使所述通信设备的光口处于工作状态。

本发明还提供另一种光口测试装置，包括：连接件，固定架；PCB板，装设于所述固定架上，所述PCB板集成设有光口测试电路；第一测试端口和第二测试端口，分别设置于所述PCB板，并能够分别连通于通信设备的光口上，以使所述光口测试电路对所述光口的工作状态进行测试，所述固定架和所述PCB板为多个，每一个PCB板装设于对应的固定架上，且多个所述固定架分别装设在所述连接件上。

优选地，所述连接件包括：连接板、第一折边和第二折边，所述第一折边和第二折边分别固定于所述连接板的两相对边。