[发明专利]一种显示面板的制程及制程装置在审

专利信息
申请号: 201710838185.7 申请日: 2017-09-18
公开(公告)号: CN107577089A 公开(公告)日: 2018-01-12
发明(设计)人: 黄北洲 申请(专利权)人: 惠科股份有限公司
主分类号: G02F1/1337 分类号: G02F1/1337;G02F1/13
代理公司: 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙)44240 代理人: 王丽
地址: 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 显示 面板 装置
【权利要求书】:

1.一种显示面板的制程,其特征在于,所述制程包括步骤:

提供两块基板:第一基板和第二基板;

在所述基板的第一表面上涂布初始配向膜;

对所述初始配向膜加热进行坚膜;

检测所述初始配向膜的设置,确定其中的需返工的配向膜单元;

使用配向膜脱膜剂去除所述需返工的配向膜单元。

2.如权利要求1所述的显示面板的制程,其特征在于,使用湿法刻蚀的方式去除所述需返工的配向膜单元。

3.如权利要求1所述的显示面板的制程,其特征在于,在所述基板的表面上涂布初始配向膜的步骤中还包括步骤:

通过喷墨的方式涂布设置所述初始配向膜;

对所述初始配向膜加热进行前烘。

4.如权利要求1-3任一所述的显示面板的制程,其特征在于,在所述基板的表面上涂布初始配向膜的步骤之前还包括步骤:

清洗所述基板;

加热干燥所述基板。

5.如权利要求1所述的显示面板的制程,其特征在于,所述第一基板上设置有彩色滤光层和透明电极层,所述第一基板和所述第二基板对置,所述第一基板的第一表面和所述第二基板的第一表面对置,所述第一基板和所述第二基板之间设置有间隔单元和液晶分子。

6.一种显示面板的制程,其特征在于,所述制程包括步骤:

提供两块基板:第一基板和第二基板;

在所述基板的第一表面上涂布初始配向膜:通过喷墨的方式涂布设置所述初始配向膜,对所述初始配向膜加热进行前烘;

对所述初始配向膜加热进行坚膜;

检测所述初始配向膜的设置,确定其中的需返工的配向膜单元;

使用配向膜脱膜剂去除所述需返工的配向膜单元;

其中,所述第一基板上设置有彩色滤光层和透明电极层,所述第一基板和所述第二基板对置,所述第一基板的第一表面和所述第二基板的第一表面对置,所述第一基板和所述第二基板之间设置有间隔单元和液晶分子。

7.一种显示面板的制程装置,其特征在于,所述制程装置包括:

配向膜涂布单元:用以在所述显示面板的基板上涂布设置初始配向膜;

配向膜检测单元:用以检测所述初始配向膜的缺陷、确定需返工的配向膜单元;

配向膜脱膜单元:用以去除所述需返工的配向膜单元,所述配向膜脱膜单元包括配向膜脱膜剂。

8.如权利要求7所述的显示面板的制程装置,其特征在于,所述配向膜脱膜单元包括湿法刻蚀机,所述湿法刻蚀机通过湿法刻蚀的方式去除所述需返工的配向膜单元。

9.如权利要求7所述的显示面板的制程装置,其特征在于,所述配向膜涂布单元包括配向膜烘烤炉,所述配向膜烘烤炉对所述初始配向膜加热进行前烘、坚膜。

10.如权利要求7所述的显示面板的制程装置,其特征在于,所述配向膜检测单元包括电荷耦合器件摄像机,所述电荷耦合器件摄像机通过扫描的方式对所述初始配向膜连续拍摄采集待检图像,再对所述待检图像进行检测、确定需返工的配向膜单元。

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