[发明专利]一种用于机箱的检具和使用检具检测机箱的方法有效
申请号: | 201710845550.7 | 申请日: | 2017-09-19 |
公开(公告)号: | CN109514350B | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
发明(设计)人: | 樊宇鹏;崔明波;武庆洲;陈亚辽 | 申请(专利权)人: | 成都鼎桥通信技术有限公司 |
主分类号: | B23Q17/20 | 分类号: | B23Q17/20 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 李璇;王一斌 |
地址: | 610041 四川省成都市高新*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 机箱 使用 检测 方法 | ||
1.一种用于机箱(1)的检具(2),其特征在于,所述机箱(1)包括:
承载面(11),用于承载目标物体(3);和
端面(12),所述端面(12)与所述承载面(11)的一侧相接,所述端面(12)上具有开孔(13),所述目标物体(3)具有穿过所述开孔(13)的轴杆(31);
所述检具(2)的形状与所述目标物体(3)的形状对应,所述检具(2)包括:
本体(20),所述本体(20)具有第一表面(21)、和与所述第一表面(21)的一侧相接的第二表面(22);和
凸起(23),所述凸起(23)自所述第二表面(22)朝向所述本体(20)的外部延伸;
所述检具(2)以所述凸起(23)的沿其延伸方向的中心轴线与所述第一表面(21)之间的第一距离(D1)作为检测标准,检测所述开孔(13)的中心轴线与所述承载面(11)之间的第二距离(D2)是否合格,所述第二距离(D2)的尺寸公差为下偏差。
2.如权利要求1所述的检具(2),其特征在于,所述本体(20)装设在所述承载面(11)上,当所述第一表面(21)贴合所述承载面(11),所述凸起(23)自所述开孔(13)伸出时,所述第二距离(D2)合格。
3.如权利要求1或2所述的检具(2),其特征在于,所述凸起(23)的直径大于所述轴杆(31)的直径。
4.如权利要求3所述的检具(2),其特征在于,所述凸起(23)的直径与所述轴杆(31)的直径之差由所述开孔(13)的加工公差和/或所述端面(12)的厚度确定。
5.如权利要求2所述的检具(2),其特征在于,所述本体(20)装设在所述承载面(11)上,当所述第一表面(21)贴合所述承载面(11),所述凸起(23)自所述开孔(13)伸出,所述第二表面(22)贴合所述端面(12)时,所述第二距离(D2)合格。
6.如权利要求1或2所述的检具(2),其特征在于,所述第一表面(21)的具有与所述目标物体(3)一致的平面度。
7.如权利要求1或2所述的检具(2),其特征在于,所述凸起(23)的中心轴线的方向与所述第一表面(21)平行。
8.一种使用检具检测机箱(1)的方法,其特征在于,使用如权利要求1至7中任一权利要求所述的检具(2),包括:
步骤100:将检具(2)放置在所述机箱(1)的承载面(11)上,使得检具(2)的第一表面(21)放置在所述承载面(11)上;
步骤200:沿着所述承载面(11)移动所述检具(2),使得检具(2)的凸起(23)穿过所述机箱(1)的开孔(13);
步骤300:以所述凸起(23)的沿其延伸方向的中心轴线与所述第一表面(21)之间的第一距离(D1)作为检测标准,判断所述凸起(23)是否能够穿过所述开孔(13)、并且所述第一表面(21)是否贴合所述承载面(11),如果是,则机箱(1)合格,如果否,则执行步骤400;
步骤400:切削所述承载面(11),然后执行步骤300。
9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述步骤300为:以所述凸起(23)的沿其延伸方向的中心轴线与所述第一表面(21)之间的第一距离(D1)作为检测标准,判断所述凸起(23)是否能够穿过所述开孔(13)、所述第一表面(21)是否贴合所述承载面(11)、并且所述第二表面(22)是否贴合所述端面(12),如果是,则机箱(1)合格,如果否,则执行步骤400。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都鼎桥通信技术有限公司,未经成都鼎桥通信技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710845550.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。