[发明专利]一种测定细胞粘附力和细胞迁移速率的超低场磁探测方法

权利要求书

1.一种测定细胞粘附力和细胞迁移速率的超低场磁探测方法，包括如下步骤：

（1）芯片的修饰和封闭：将FIRMS芯片修饰抗衰蛋白FN，然后采用胎牛血清封闭上述芯片，得到修饰的芯片；

所述FIRMS芯片的材料采用聚二甲基硅烷或玻璃；

所述方法中，还包括所述FIRMS芯片修饰抗衰蛋白FN之前先活化，然后依次经氨基、醛基化的步骤；

所述芯片的表面设置一凹陷；

所述芯片上抗衰蛋白FN的修饰浓度为20~30 μg/mL；

所述芯片采用等离子方法活化；

所述芯片氨基化采用试剂为无水乙醇或3-氨基丙基三乙氧基硅烷；

所述芯片醛基化采用试剂为戊二醛；

（2）细胞的磁标记：细胞与磁探针共孵育，得到磁标记的细胞；

所述磁探针为Fe₃O₄立方晶，其尺寸为20 nm，多分散性指数为0.16；

所述磁探针的浓度为20 ug/mL；

步骤（2）之后还包括对步骤（2）处理得到的细胞进行FIRMS可行性验证的步骤；

所述FIRMS可行性验证包括如下步骤：将步骤（2）处理得到的细胞中加入胰蛋白酶，然后检测上述细胞在所述修饰的芯片上运动并解离的过程中剩磁变化的图谱与未加入胰蛋白酶的细胞剩磁变化谱图做比较；

所述胰蛋白酶的质量百分浓度为0.25%，所述FIRMS可行性验证中检测时间为3~10min；

步骤（2）中，所述孵育的时间为120 ~240 min；

（3）细胞的磁化：将所述磁标记的细胞接种于所述修饰的芯片上孵育并磁化所述磁标记的细胞内的磁探针；

当步骤（3）处理得到的细胞用于测定细胞粘附力时，所述孵育的时间为20 ~30 min；

当步骤（3）处理得到的细胞用于测定细胞迁移速率时，所述孵育的时间为10 h~40 h；

采用磁铁进行磁化；

所述磁铁的强度为0.5 ~1 T，所述磁铁与磁珠的距离为1.5 ~2 cm；

（4）细胞粘附力和细胞迁移速率的测定：

1）外力干扰步骤（3）处理得到的细胞从所述芯片上解离，同时采用FIRMS记录得到所述修饰的芯片上剩磁信号降低的谱图，根据上述谱图，将剩磁信号降低一半时对应的力定义为粘附力计算，即得到细胞的粘附力；

2）采用FIRMS记录步骤（3）处理得到的细胞迁移导致所述修饰的芯片的剩磁信号降低的谱图，根据上述谱图，通过线性拟合计算剩磁信号下降速率计算，即得到细胞的迁移速率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤（4）-1）中，所述外力为离心力，所述离心力的强度为10 pN、12 pN、22 pN、28 pN、36 pN、46 pN、60 pN、72 pN和90 pN。