[发明专利]一种霍尔产品测试机构以及装配和测试方法

说明书

本发明公开了一种霍尔产品测试机构以及装配和测试方法，属于芯片测试技术领域。本发明的霍尔产品测试机构，包括霍尔活动夹，还包括霍尔线圈、项圈、基座和霍尔测试片；霍尔线圈包括工字形支架及包覆在工字形支架中间部分的漆包线卷，工字形支架一端为环台，环台中心处为圆形凹槽；圆形凹槽的中心处为圆形通孔；基座为圆环形，嵌入圆形凹槽内，霍尔测试片固定于基座的上表面；项圈中部设置有方孔，方孔环套在霍尔活动夹的顶端；霍尔活动夹的尾端插入进圆形通孔内。整个机构形成霍尔测试片和霍尔活动夹的定位及固定装置。本发明解决了芯片测试过程中，霍尔线圈在测试区的磁场不够稳定、测得的高斯量最大与最小之差值很大的问题。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种霍尔产品测试机构以及装配和测试方法。

背景技术

目前，在半导体集成电路制造工艺中，需要对切割封装后的成品芯片进行进一步测试，测试过程中，霍尔线圈起到提供磁场的作用。霍尔器件测试夹则是用来对成品霍尔器件进行测试的夹具。在测试过程中，具体做法是通过芯片分选机的吸嘴将霍尔器件转移至测试夹内，测试完毕后，芯片分选机的吸嘴再将霍尔器件转移至下一工序，而封装体的引脚是左右对称设置，测试时如何保证两侧引脚和霍尔测试片的接触以及防止测试时叠料也是技术人员需要考虑的技术问题。

如图2所示，原普通的霍尔线圈在测试区无法产生稳定的磁场，产品参数在设定的范围内容易跳边，这是由于产品在测试时因线圈结构的原因只能在线圈上方3mm处测试，当调整吸嘴行程时，吸嘴下的产品便会在线圈外围磁场上下动作，而线圈外围磁场是极其不稳定的，离线圈越近磁场就越大，故产品测得的高斯量最大与最小之差值很大。

经检索，中国专利申请，申请号：201510949562.5，公开日：2016.05.04，公开了一种霍尔巴赫磁体匀场线圈及其设计方法，具体针对霍尔巴赫磁体的结构特点和主磁场方向，根据磁场结构特征对电流密度函数进行灵活设计，然后利用比奥萨瓦特定律推导出电流密度与主磁场之间的关系，从而反演出电流分布函数，同时考虑匀场线圈对功率损耗函数，线性度等参数的要求，对线圈结构进行优化。该发明对霍尔巴赫磁体给出两种结构的线圈结果，在结构复杂度和性能方面各有利弊，可根据实际需求灵活进行选择。该发明理论性强，应用于成品芯片的测试时，还需要进行相应的数据转化和具体的结构设计。

中国发明专利申请，公开号：CN105931979A，公开日：2016.09.07，公开了一种旋转下压型芯片测试夹具，包括支架，所述支架包括带有水平面的基台和竖直状的支撑杆；所述支撑杆上固定有内壁带有螺旋纹的空心柱状支撑架；还包括外壁带有螺旋纹的下压棒；所述支撑架内壁的螺旋纹和所述下压棒外壁的螺旋纹相互匹配；所述下压棒下部端头处设置有上部测试针，所述下压棒的上部端头处设置有手柄；所诉基台上固定有芯片放置台，所述芯片放置台的上表面设置有芯片定位杆，芯片放置台还设置有通孔，通孔中固定有下部测试针。该发明适用于未封装芯片的测试，可对芯片进行定位和快速测试，而无需将测试引脚焊接在芯片上，对芯片安装拆卸均快捷方便，适用于大批量的测试。但该发明申请的水平面的基台不能调整大小，只能测试固定规格的芯片，而且，只适用于未封装芯片的测试，通用性较差。

发明内容

1.发明要解决的技术问题

针对现有技术中成品芯片测试过程中，霍尔线圈在测试区的磁场不够稳定、测得的高斯量最大与最小之差值很大、封装体测试时在测试夹内左右偏移造成定位不准，以及测试完成后封装体在测试站及转移到副盘容易叠料的问题，本发明提供了一种霍尔产品测试机构以及装配和测试方法。它通过在霍尔线圈的一端巧妙设计容纳霍尔测试片的沉孔，达到提供稳定磁场的目的，而且，本发明的测试夹口可根据封装体的尺寸进行适应性调节，达到定位准确的目的，将封装体进行定位调整后，也解决了测试完成后转移到副盘容易叠料的问题。

2.技术方案

为达到上述目的，本发明提供的技术方案为：