[发明专利]用于检测入射光的波长光谱的方法和电子装置有效
申请号: | 201710854952.3 | 申请日: | 2017-09-20 |
公开(公告)号: | CN107870038B | 公开(公告)日: | 2022-02-01 |
发明(设计)人: | 朴景台;李正源;朴宰亨 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/42;G01J3/457 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 曾世骁;苏银虹 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 入射 波长 光谱 方法 电子 装置 | ||
1.一种电子装置,包括:
图像传感器,包括像素阵列,其中,像素阵列包括多个单位像素,其中,每个单位像素包括:
微透镜,被配置为将入射光聚焦,
滤色器,通过具有指定波长范围的光,以及
第一光检测器和第二光检测器,被配置为响应于入射光输出两个电信号;以及
处理器,被配置为针对每个单位像素,通过使用通过将来自第一光检测器的第一输出值与来自第二光检测器的第二输出值的和除以第二输出值而获得的值来检测入射光的波长光谱,
其中,每个单位像素的作为第一光检测器与第二光检测器之间的间隙的中心点的物理中心点和由穿过微透镜的入射光在第一光检测器和第二光检测器上形成的光斑的中心点彼此间隔指定的距离。
2.如权利要求1所述的电子装置,其中,处理器还被配置为:
通过使用来自第一光检测器和第二光检测器的输出值计算至少一个参数,基于所述至少一个参数检测入射光的波长光谱。
3.如权利要求2所述的电子装置,还包括存储器,被配置为存储与所述至少一个参数和波长光谱之间的相关性相关联的数据,
其中,处理器还被配置为基于与所述相关性相关联的所述数据,检测入射光的波长光谱。
4.如权利要求1所述的电子装置,其中,处理器还被配置为通过使用检测到的波长光谱确定产生入射光的光源的类型。
5.如权利要求4所述的电子装置,其中,处理器还被配置为将与确定的光源的类型相应的白平衡校正应用于图像的至少一部分。
6.如权利要求1所述的电子装置,其中,滤色器被布置在微透镜下面。
7.如权利要求1所述的电子装置,其中,来自第一光检测器和第二光检测器的输出值之间的输出差由于所述物理中心点和所述光斑的中心点之间的间隙而出现。
8.如权利要求1所述的电子装置,其中,由穿过微透镜的入射光在第一光检测器和第二光检测器上形成的光斑相对于微透镜的中心点朝向图像传感器的外侧偏移。
9.如权利要求1所述的电子装置,其中,像素阵列包括第一组单位像素、第二组单位像素和第三组单位像素,
其中,第一组单位像素中的每一个像素单位中的滤色器使具有第一波长范围的光通过,
其中,第二组单位像素中的每一个像素单位中的滤色器使具有第二波长范围的光通过,
其中,第三组单位像素中的每一个像素单位中的滤色器使具有第三波长范围的光通过。
10.如权利要求9所述的电子装置,其中,处理器还被配置为通过使用第一组单位像素的输出值的和、第二组单位像素的输出值的和以及第三组单位像素的输出值的和的比例来检测入射光的波长光谱。
11.如权利要求9所述的电子装置,其中,第一波长范围、第二波长范围和第三波长范围分别包括与红色相应的波长范围、与绿色相应的波长范围和与蓝色相应的波长范围。
12.如权利要求1所述的电子装置,其中,单位像素包括三个或更多个光检测器,
其中,单位像素的物理中心点和由入射光在所述三个或更多个光检测器上形成的光斑的中心点被设置为彼此重合。
13.如权利要求1所述的电子装置,其中,第一个光检测器和第二光检测器中的每一个均包括光电二极管。
14.一种包括多个单位像素的电子装置的波长检测方法,所述方法包括:
响应于入射光通过所述多个单位像素中的单位像素的第一光检测器和第二光检测器获得两个或更多个电信号;
针对每个单位像素,通过使用通过将来自第一光检测器的第一输出值与来自第二光检测器的第二输出值的和除以第二输出值而获得的值来检测入射光的波长光谱,
其中,单位像素的作为第一光检测器与第二光检测器之间的间隙的中心点的物理中心点和由穿过单位像素中包括的微透镜的入射光在第一光检测器和第二光检测器上形成的光斑的中心点彼此间隔指定的距离。
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