[发明专利]一种测试治具新型探针有效

专利信息
申请号: 201710855106.3 申请日: 2017-09-20
公开(公告)号: CN107607753B 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 李鹏;李作鹏;杨洁;梅得军;李晓华 申请(专利权)人: 上达电子(深圳)股份有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 代理人: 许春兰;李彬彬
地址: 518104 广东省深圳市宝安区沙井街道黄*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 新型 探针
【权利要求书】:

1.一种测试治具新型探针,其特征在于,包括测试端部(1)、中部(2)、连接底部(3)和贯穿于测试端部(1)、中部(2)、连接底部(3)的测试针(4),位于连接底部(3)的测试针(43)的端部连有金属弹簧(5),所述金属弹簧(5)设于连接底部(3)的外部;

所述金属弹簧(5)一端为连接线,另一端为杯子形状,测试针(4)端部卡在金属弹簧(5)的杯子形状内;

所述中部(2)的直径大于所述测试端部(1)和连接底部(3)的直径;

所述测试针(4)的直径为0.2~0.6mm,所述测试治具为电路板空板测试仪。

2.根据权利要求1所述的测试治具新型探针,其特征在于,所述测试端部(1)、中部(2)和连接底部(3)均由高碳钢材料制成。

3.根据权利要求1所述的测试治具新型探针,其特征在于,位于连接底部(3)的测试针(43)的端部与金属弹簧(5)为可拆卸连接。

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