[发明专利]一种测试治具新型探针有效
申请号: | 201710855106.3 | 申请日: | 2017-09-20 |
公开(公告)号: | CN107607753B | 公开(公告)日: | 2021-08-17 |
发明(设计)人: | 李鹏;李作鹏;杨洁;梅得军;李晓华 | 申请(专利权)人: | 上达电子(深圳)股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067 |
代理公司: | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人: | 许春兰;李彬彬 |
地址: | 518104 广东省深圳市宝安区沙井街道黄*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 新型 探针 | ||
1.一种测试治具新型探针,其特征在于,包括测试端部(1)、中部(2)、连接底部(3)和贯穿于测试端部(1)、中部(2)、连接底部(3)的测试针(4),位于连接底部(3)的测试针(43)的端部连有金属弹簧(5),所述金属弹簧(5)设于连接底部(3)的外部;
所述金属弹簧(5)一端为连接线,另一端为杯子形状,测试针(4)端部卡在金属弹簧(5)的杯子形状内;
所述中部(2)的直径大于所述测试端部(1)和连接底部(3)的直径;
所述测试针(4)的直径为0.2~0.6mm,所述测试治具为电路板空板测试仪。
2.根据权利要求1所述的测试治具新型探针,其特征在于,所述测试端部(1)、中部(2)和连接底部(3)均由高碳钢材料制成。
3.根据权利要求1所述的测试治具新型探针,其特征在于,位于连接底部(3)的测试针(43)的端部与金属弹簧(5)为可拆卸连接。
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