[发明专利]自动分析仪及其样本针或试剂针的工作方法、清洗室

说明书

本发明公开了一种自动分析仪及其样本针或试剂针的工作方法、清洗室，通过至少提供两个不相同清洗高度，从而可以灵活地将吸移器——例如样本针和/或试剂针——控制在不同的清洗高度进行清洗，在清洗要求和吸液完成到开始排液所需时间之间，根据情况可以选择不同的清洗高度，当清洗要求很高时，控制吸移器在比较低的清洗高度进行清洗，当要求吸液完成后快速排液，则控制吸移器在比较高的清洗高度进行清洗。

技术领域

本发明涉及一种自动分析仪及其样本针或试剂针的工作方法、清洗室。

背景技术

在自动分析仪中，清洗是一个必不可少的环节，例如对样本针和试剂针等部件的清洗。

不妨以样本针为例，其用于吸取和排放样本。为了避免污染等，样本针在吸取完样本后，需要对该样本针进行外壁清洗，在排放完样本后，需要对该样本针进行内外壁清洗。因此，在一个加样周期内，样本针一般先是移动到吸样位吸取样本，然后移动到清洗室中被清洗外壁，再移动到加样位排放样本，然后移动到清洗室中被清洗内外壁；可以看到在一个加样周期中，样本针包括吸样、水平移动、垂直移动和排样等动作，每个动作所花费的时间，直接影响到加样周期的长短，加样周期越长，导致自动分析仪的测试速度越低，反之，加样周期越短，则自动分析仪的测试速度会越高。

试剂针与样本针类似，只不过试剂针是用于吸取和排放试剂到样本中。类似地，在一个加试剂周期中，试剂针包括吸试剂、水平移动、垂直移动和排试剂等动作，每个动作所花费的时间，直接影响到加试剂周期的长短，加试剂周期越长，导致自动分析仪的测试速度越低，反之，加试剂周期越短，则自动分析仪的测试速度会越高。

发明内容

本申请提供一种自动分析仪及其样本针或试剂针的工作方法、清洗室，其可以缩短加样周期和/或加试剂周期，从而提高仪器的测试速度等。

根据第一方面，一种实施例中提供一种用于自动分析仪的样本针的工作方法，包括：

至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，其中第一清洗高度和第二清洗高度不相同；

当样本针需要清洗时，控制样本针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作。

根据第二方面，一种实施例中提供一种用于自动分析仪的试剂针的工作方法，包括：

至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，其中第一清洗高度和第二清洗高度不相同；

当试剂针需要清洗时，控制试剂针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作。

根据第三方面，一种实施例提供一种自动分析仪，包括：

样本针，用于吸样和排样；

驱动机构，用于驱动所述样本针；

清洗室，用于对所述样本针进行清洗；

控制单元，用于至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，当样本针需要清洗时，控制样本针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作，其中第一清洗高度和第二清洗高度不相同。

根据第四方面，一种实施例提供一种自动分析仪，包括：

试剂针，用于吸试剂和排试剂；

驱动机构，用于驱动所述样本针；

清洗室，用于对所述样本针进行清洗；

控制单元，用于至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，当试剂针需要清洗时，控制试剂针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作，其中第一清洗高度和第二清洗高度不相同。