[发明专利]一种计算机键盘寿命测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及计算机键盘技术领域，具体是一种计算机键盘寿命测试装置。

背景技术

一款好的计算机键盘需要有较长的使用寿命，一款新的键盘产品研发出来需要对键盘按键进行敲打测试，对按键进行不间断的几十万次的敲击，目前市面上的按键寿命测试仪价格非常昂贵，而且结构复杂，日常维护检修困难，同时需要对键盘表面除尘，防止灰尘进入键盘影响键盘运行和测试精度，现有的测试方式成本高，难以被广泛接受。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种计算机键盘寿命测试装置，其能够解决上述现在技术中的问题。

本发明是通过以下技术方案来实现的：本发明的一种计算机键盘寿命测试装置，包括顶架以及固定安装在所述顶架正下方的测试机，所述顶架底面与所述测试机顶面之间固定连接有连接架，所述测试机内设有敲打装置和除尘装置，所述敲打装置包括设置在所述测试机左侧底面内的第一容槽，所述第一容槽内设有敲打块，所述第一容槽内顶壁内设有第二容槽，所述第二容槽内设有底部与所述敲打块顶部固定连接的柔接端，所述第二容槽上方的所述测试机内设有第一滑运腔，所述第一滑运腔左侧内壁内设有第一滑运槽，所述第一滑运槽内滑运配合连接有向右侧延长设置的第一滑运块，所述第一滑运块右侧延长末尾伸至所述第一滑运腔内且与所述第一滑运腔右侧内壁滑运配合连接，所述第一滑运块底部末尾固定设置有向下延长设置的按杆，所述按杆底部延长部通穿所述第一滑运腔与所述第二容槽之间的所述测试机且滑运配合连接，所述按杆底部延长末尾伸至所述第二容槽内且与所述柔接端顶部固定连接，所述除尘装置包括上下延长设置的第二滑运腔，所述第二滑运腔右侧内壁内设有第二滑运槽，所述第二滑运槽内设有向左侧延长设置的第二滑运块，所述第二滑运块左侧延长末尾伸至所述第二滑运腔内且与所述第二滑运腔左侧内壁滑运配合连接，所述第二滑运腔内的所述第二滑运块底面内设有除尘电转机，所述除尘电转机底部相对的所述第二滑运腔内底壁通穿设有贯出孔，所述贯出孔内配合连接有向上延长设置的除尘刷头，所述除尘刷头顶部与所述除尘电转机底部端配合连接，所述敲打装置和所述除尘装置之间的所述测试机内配合连接有带动装置，所述带动装置上方的所述测试机内设有用以与所述敲打装置和所述除尘装置轮流锁停连接的锁停装置，所述除尘电转机上设置有管控装置。

作为优选地技术方案，所述带动装置包括固定设置在所述测试机内的第一电转机，所述第一电转机上下两侧的所述测试机内对称设有传输腔，上下两侧所述传输腔内分别设有与所述第一电转机上下两侧末尾配合连接的第一锥状轮，上侧所述传输腔内的所述第一锥状轮左侧顶部与下侧所述传输腔内的所述第一锥状轮右侧底部均楔合连接有第二锥状轮，上侧所述传输腔与所述第一滑运腔之间的所述测试机内回转配合连接有左右延长设置的第一转杆，下侧所述传输腔与所述第二滑运腔之间的所述测试机内回转配合连接有左右延长设置的第二转杆，所述第一转杆左侧延长末尾伸至所述第一滑运腔内且末尾固定设置有第一凸状轮，所述第一凸状轮位于所述第一滑运块下方的所述第一滑运腔内且所述第一凸状轮外表面与所述第一滑运块底面滑运配合连接，所述第一转杆右侧延长末尾伸至上侧所述传输腔内且末尾与上侧所述传输腔内的所述第一锥状轮左侧端固定连接，所述第二转杆左侧延长末尾伸至下侧所述传输腔内且末尾与下侧所述传输腔内的所述第二锥状轮右侧端固定连接，所述第二转杆右侧延长末尾伸至所述第二滑运腔内且末尾固定设置有第二凸状轮，所述第二凸状轮位于所述第二滑运块下方的所述第二滑运腔内且外表面与所述第二滑运块底面滑运配合连接。

作为优选地技术方案，所述第一滑运槽内的所述第一滑运块内滑运配合连接有上下延长设置的第一导引杆，所述第一导引杆上下两侧延长末尾分别与所述第一滑运槽上下内壁固定连接，所述第一滑运块顶部的所述第一滑运腔内设有第一环圈，所述第一滑运块右侧面内设有第一斜口孔，所述第二滑运槽内的所述第二滑运块内滑运配合连接有上下延长设置的第二导引杆，所述第二导引杆上下两侧延长末尾分别与所述第二滑运槽上下内壁固定连接，所述第二滑运块顶部的所述第二滑运腔内设有第二环圈，所述第二滑运块左侧面内设有第二斜口孔。