[发明专利]一种存储芯片分类方法、分类装置及分类系统

权利要求书

1.一种存储芯片分类方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测存储芯片的标识信息，并根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令；

根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数；

根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行检测，获取检测结果参数，具体包括：

对所述检测指令进行解析，获取所述检测指令中包含的检测数据和检测命令；

根据所述检测数据和所述检测命令，对所述待测存储芯片进行检测，获取检测结果参数。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述检测命令包括：数据擦除、数据写入和数据读取；

相应地，所述根据所述检测数据和所述检测命令，对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数，具体包括：

根据所述检测数据，对所述待测存储芯片依次进行数据擦除、数据写入以及数据读取；

获取对所述待测存储芯片依次进行数据擦除、数据写入以及数据读取操作过程中的操作数据；

每隔预设时间周期对所述待测存储芯片进行采样，获取采样数据；

根据所述操作数据以及所述采样数据，生成所述检测结果参数。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级，具体包括：

根据所述检测结果参数计算出所述待测存储芯片的性能参数；

根据所述性能参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级；所述性能参数包括：数据读取正确率、数据写入速率以及数据读取速率。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述检测结果参数包括：写入的数据内容、读取的数据内容、数据擦除时长、数据写入时长、数据读取时长以及数据纠错时长。

6.一种存储芯片分类装置，其特征在于，所述存储芯片分类装置包括：检测芯片、处理器及存储在所述检测芯片上的存储芯片分类程序，所述存储芯片分类程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的存储芯片分类方法的步骤。

7.一种存储芯片分类系统，其特征在于，所述存储芯片分类系统包括：测试主机和检测芯片，所述测试主机和所述检测芯片连接；

所述测试主机，用于获取待测存储芯片的标识信息，根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令，并根据所述检测指令生成目标指令；

所述检测芯片，用于获取所述目标指令，对所述目标指令进行解析，并根据解析结果对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数；

所述测试主机，还用于根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。

8.如权利要求7所述的存储芯片分类系统，其特征在于，所述测试主机，还用于获取待测存储芯片的标识码，根据所述标识码在映射关系中查找所述标识码对应的检测指令，并对所述检测指令进行压缩，获得所述目标指令；所述映射关系中包括存储芯片标识码与检测指令之间的对应关系。

9.如权利要求8所述的存储芯片分类系统，其特征在于，所述检测芯片，还用于对所述检测结果参数进行压缩获得目标数据，并将所述目标数据保存至存储空间；

相应地，所述测试主机，还用于从所述检测芯片的所述存储空间中获取所述目标数据，并对所述目标数据进行解压缩获得所述检测结果参数，并根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。

10.如权利要求9所述的存储芯片分类系统，其特征在于，所述测试主机，还用于根据所述待测存储芯片对应的质量等级，生成所述待测存储芯片对应的应用方向参考信息。