[发明专利]一种用于多激光SLM成形装置的负载均衡扫描成形方法有效

专利信息
申请号: 201710862553.1 申请日: 2017-09-22
公开(公告)号: CN107498052B 公开(公告)日: 2019-03-05
发明(设计)人: 张李超;何森;赵祖烨;史玉升 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: B22F3/105 分类号: B22F3/105;B33Y10/00;B33Y50/02
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 梁鹏;曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 激光 slm 成形 装置 负载 均衡 扫描 方法
【权利要求书】:

1.一种用于多激光SLM成形装置的负载均衡扫描成形方法,其特征在于,该方法包括下列步骤:

(a)针对作为待加工对象的零部件,构建对应的三维模型,并对该模型执行分层切片及离散处理,由此获得每一个离散层的模型轮廓;

(b)当采用多振镜扫描系统对各离散层执行实际工作区域的分割时,依照以下的算法,在每两个相邻振镜扫描区的中间重叠区域中找出优化分割线,该步骤具体包括以下子步骤:

(b1)选择第一离散层作为当前离散层,并将其编号记做i=1,然后将其对应的每两个相邻振镜扫描区的中间重叠区域的中线作为初始分割线;

(b2)采用初始分割线对当前离散层的实体轮廓进行分割,并将位于该初始分割线两侧的区域分别作为两个相邻振镜的工作区;接着,计算两个区域各自对应的实际加工时间,并将两者的实际加工时间不一致时,进入步骤(b3)执行优化处理,否则直接跳入步骤(b4);

(b3)对所述两个区域各自对应的实际加工时间计算其差值比例,并依照计算出的差值比例来相应调整初始分割线的左右移动距离,由此实现对分割线的优化处理并进入步骤(b4);

(b4)令i=i+1,继续将下一离散层选择为当前离散层,同时将其初始分割线设定为与上一层离散层保持相同;返回循环执行步骤(b2)~(b4),直至完成所有离散层的分割线优化处理;

(c)对完成优化分割后的各个区域实施路径规划和填充,由此完成整体的负载均衡扫描成形过程。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤(b)中,对完成分割线优化后的当前离散层继续执行下列处理:

首先判断当前使用的分割线与离散层实体轮廓之间的相交性,并计算出发生相交的轮廓环的面积大小;接着,当计算出的轮廓环面积小于或等于预设的阈值时,判定该相交的离散层实体轮廓为小截面轮廓,不允许进行进一步的分割,即将处于当前使用的分割线一侧的面积相对较小的轮廓环与分割线做布尔并运算。

3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在步骤(b2)中,按照加工路径、扫描速度、拐点延迟和空跳速度这些参数来计算实际加工时间。

4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,在判断当前使用的分割线与离散层实体轮廓之间的相交性的过程中,采用射线法算法进行处理,并计算出发生相交的轮廓环面积大小、以及分割线穿过轮廓环的长度。

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