[发明专利]有机发光二极管显示设备有效
申请号: | 201710864556.9 | 申请日: | 2017-09-22 |
公开(公告)号: | CN107871475B | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 梁洙敏;朴真佑;裵珉奭 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 |
主分类号: | G09G3/3291 | 分类号: | G09G3/3291 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 史迎雪;康泉 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 有机 发光二极管 显示 设备 | ||
有机发光二极管(OLED)显示设备包括具有栅极线、与栅极线相交的数据线以及连接到栅极线和数据线的多个像素的OLED显示面板。时序控制器接收包括多个帧的图像信号并且基于多个帧输出图像数据。数据驱动器生成与从时序控制器输出的图像数据对应的数据信号电压。当图像信号包括到多个像素中的一个像素的、持续至少预定的多个帧的黑色图像信号时,时序控制器输出第一图像数据,在第一图像数据中黑色图像信号已经转换成大于黑色图像信号的灰阶值的第一灰阶值。
相关申请的交叉引用
本申请要求2016年9月22日在韩国知识产权局(KIPO)提交的韩国专利申请第10-2016-0121537号的优先权,该韩国专利申请的全部公开内容通过引用合并于此。
技术领域
本发明的示例性实施例涉及一种显示设备,并且更具体地,涉及一种有机发光二极管(“OLED”)显示设备和驱动OLED显示设备的方法。
背景技术
显示设备通常包括多个像素,该多个像素被提供在由黑矩阵和/或像素限定层限定的区域中。显示设备的示例可包括液晶显示(“LCD”)设备、等离子体显示面板(“PDP”)设备和有机发光二极管(“OLED”)显示设备。
一般而言,OLED显示设备包括绝缘基板、布置在绝缘基板上的薄膜晶体管(“TFT”)、连接到TFT的像素电极、分割像素电极的隔断墙、布置在隔断墙之间的像素电极上的有机层以及布置在隔断墙和有机层上的公共电极。
在这样的示例中,TFT针对每个像素区域控制有机层的发光。像素电极被布置在每个像素区域中,并且每个像素电极与相邻的像素电极电隔离,以便每个像素电极可独立地被驱动。另外,分割像素区域的隔断墙被形成为高于像素电极。隔断墙用于分割像素区域,同时基本上防止像素电极之间的短路。包括空穴注入层和有机发光层的有机层被形成在隔断墙之间的像素电极上。具有这种结构的OLED控制从有机发光层发出的光以显示图像。
然而,有机发光层中产生的一些光无助于图像的显示。浪费的光在像素和外围像素内部传播,从而导致像素中的TFT的劣化。
发明内容
有机发光二极管(OLED)显示设备包括有机发光二极管显示面板,有机发光二极管显示面板具有多条栅极线、与多条栅极线相交的多条数据线以及连接到多条栅极线和多条数据线的多个像素。时序控制器接收多个帧的图像信号并且基于多个帧输出图像数据。数据驱动器生成与从时序控制器输出的图像数据对应的数据信号电压。当图像信号包括到多个像素中的一个像素的、持续至少预定的多个帧的黑色图像信号时,时序控制器输出第一图像数据,在第一图像数据中黑色图像信号已经转换成大于黑色图像信号的灰阶值的第一灰阶值。
补偿有机发光二极管(OLED)显示设备的光致劣化的方法包括:接收具有图像信息的图像信号。分析所接收的图像信号,并且由此检测到光致劣化预测图像信号。检测光致劣化预测图像信号的黑色图像信号,并且由此计算光致劣化灰阶补偿值。用光致劣化灰阶补偿值补偿光致劣化预测图像信号,并且由此生成光致劣化补偿后图像数据。输出光致劣化补偿后图像数据。
驱动有机发光二极管(OLED)显示设备的方法包括:接收图像信号。分析图像信号以识别一区域,在该区域中相对高的灰阶值跨越多个帧是相对恒定的并且基本上被相对低的灰阶值围绕。通过增加相对低的灰阶值修改所识别的相对低的灰阶值。
附图说明
通过参考附图详细描述本公开的示例性实施例,本公开的更完整理解以及本公开带来的许多方面将变得更显而易见,其中:
图1是示出根据本发明的示例性实施例的有源矩阵型有机发光二极管(“AMOLED”)显示设备的一个像素的等效电路图;
图2是示出比较显示设备的电路图;
图3是比较OLED显示面板的光致劣化实验图像;
图4是显示图3的实验图像之后的结果数据图像;
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