[发明专利]一种大口径网状天线无源互调功率密度的半物理确定方法和系统

权利要求书

1.一种大口径网状天线无源互调功率密度的半物理确定方法，其特征在于步骤如下：

(1)对于大口径网状天线进行电磁仿真，得到大口径网状天线反射面的功率密度分布及馈源入射角度范围；

(2)将步骤(1)的结果离散得到N个反射面功率密度的采样点和M个馈源入射角度的采样点；

(3)根据步骤(2)反射面功率密度的采样点，对大口径网状天线的金属网制作的金属网样本进行无源互调测量，得到无源互调测量结果；

(4)根据步骤(3)的无源互调测量结果，拟合出无源互调信号的功率密度PIM与大口径网状天线反射面的功率密度S以及馈源入射角度θ的函数关系；

(5)根据步骤(2)反射面功率密度的采样点和馈源入射角度的采样点，将大口径网状天线反射面划分为N*M个区域，确定每个区域在大口径网状天线馈源处的无源互调功率密度因子S_Region,i；

(6)在N*M个区域的每个区域中，根据步骤(4)得到的函数关系和步骤(5)得到的无源互调功率密度因子S_Region,i，得到大口径网状天线馈源处的无源互调功率密度。

2.根据权利要求1所述的一种大口径网状天线无源互调功率密度的半物理确定方法，其特征在于：大口径网状天线中的大口径是指口径大于四倍电波长。

3.根据权利要求1所述的一种大口径网状天线无源互调功率密度的半物理确定方法，其特征在于：入射角为入射到大口径网状天线的信号与大口径网状天线的法向夹角。

4.根据权利要求1所述的一种大口径网状天线无源互调功率密度的半物理确定方法，其特征在于：步骤(1)对大口径网状天线进行电磁仿真，得到大口径网状天线反射面的功率密度分布及馈源入射角度范围，具体如下：

(1.1)预先给定大口径网状天线发射信号的载波频率下限和上限分别为f₁和f₂，

(1.2)将载波频率f₁和f₂作为两个测试信号的载波频率，每路测试信号功率均为p，两个测试信号的互调频率为m、n均为非零正整数，且f_p为正数；

(1.3)在载波频段的中心频点以测试信号功率p，对大口径网状天线进行电磁仿真，得到大口径网状天线反射面的功率密度分布及馈源入射角度范围。

5.根据权利要求1所述的一种大口径网状天线无源互调功率密度的半物理确定方法，其特征在于：步骤(2)将步骤(1)的结果离散得到N个反射面功率密度的采样点和M个馈源入射角度的采样点，具体如下：

(2.1)将大口径网状天线反射面功率密度分布区间离散为N个区间，得到了N个反射面功率密度的采样点；

(2.2)在步骤(1)得到的馈源入射角度范围内以间隔Δ，将大口径网状天线馈源入射角度范围离散为为M个区间，得到了M个馈源入射角度的采样点。

6.根据权利要求1所述的一种大口径网状天线无源互调功率密度的半物理确定方法，其特征在于：步骤(3)根据步骤(2)反射面功率密度的采样点，对大口径网状天线的金属网制作的金属网样本进行无源互调测量，得到无源互调测量结果，步骤如下：

(3.1)将反射面功率密度采样点与馈源入射角度采样点构成金属网样本无源互调的测量矩阵；

(3.2)根据测量矩阵对大口径网状天线的金属网制作的金属网样本进行无源互调测量，得到无源互调测量结果。