[发明专利]一种电子设备及其声波测距方法

权利要求书

1.一种声波测距方法，应用于电子设备，其特征在于，该方法包括：

所述电子设备向目标障碍物发射第一声波信号，所述第一声波信号包括第一频率信号和第二频率信号，所述第一频率信号和所述第二频率信号互相调制后不存在人耳可听见的频率信号，所述第一频率信号和所述第二频率信号分别为周期性信号，且所述第一频率信号的周期和所述第二频率信号的周期的最小公倍数大于第一预设值；

所述电子设备接收第一接收信号，所述第一接收信号包括所述第一声波信号经所述目标障碍物反射后形成的第一反射信号；

根据所述第一接收信号中所述第一频率信号的任一接收时刻，所述第二频率信号的周期数，计算所述任一接收时刻对应的所述第一频率信号的发射时间；

根据所述任一接收时刻对应的所述第一频率信号的发射时间和接收时间，计算所述电子设备与所述目标障碍物之间的距离。

2.根据权利要求1所述的声波测距方法，其特征在于，根据所述第一接收信号中所述第一频率信号的任一接收时刻，所述第二频率信号的周期数，计算所述任一接收时刻对应的第一频率信号的发射时间包括：

根据所述第一接收信号中所述第一频率信号的任一周期内，所述第二频率信号的周期数，计算所述第一接收信号中所述第一频率信号的任一周期内，所述第一频率信号和所述第二频率信号的周期数差值；

根据所述第一接收信号中所述第一频率信号的任一周期内，所述第一频率信号和所述第二频率信号的周期数差值，计算该周期数差值时间内所述第二频率信号的波长数目；

计算预设采样频率下，该周期数差值时间内所述第二频率信号的波长数目对应的采样点数；

根据所述采样点数查询预设数据库，获得所述任一周期对应的第一频率信号的发射时间；

其中，所述预设数据库中存储有所述第一频率信号不同发射周期内，所述第一频率信号的发射时间以及预设采样点数的对应关系，所述预设采样点数为所述预设采样频率下，在该发射周期内所述第一频率信号和所述第二频率信号的周期数差值时间内所述第二频率信号的采样点数。

3.根据权利要求2所述的声波测距方法，其特征在于，该周期数差值时间内所述第二频率信号的波长数目由M个波长和N个波长组成，其中，M为不小于零的整数，N大于零且小于1；所述计算预设采样频率下，该周期数差值时间内所述第二频率信号的波长数目对应的采样点数包括

计算预设采样频率下，该周期数差值时间内所述第二频率信号的波长数目中N个波长对应的采样点数。

4.根据权利要求2或3所述的声波测距方法，其特征在于，所述预设数据库的建立方法包括：

计算所述第一频率信号多个周期中各个周期时间内对应的所述第二频率信号的周期数；

将所述第二频率信号的周期数划分成P个周期和Q个周期，其中，P为不小于零的整数，Q大于零且小于1；

计算所述Q个周期对应的所述第二频率信号的波长长度；

计算预设频率下，所述Q个周期对应的所述第二频率信号的波长长度包括的采样点数；

建立所述采样点数与所述第一频率信号各周期时间的对应关系。

5.根据权利要求1所述的声波测距方法，其特征在于，所述电子设备发射第一声波信号包括：所述电子设备发射两个周期的第一声波信号，所述根据所述第一接收信号中所述第一频率信号的任一接收时刻，所述第二频率信号的周期数，计算所述任一接收时刻对应的所述第一频率信号的发射时间包括：

根据位于所述第一接收信号的第二个周期的下降沿信号中所述第一频率信号的任一接收时刻，所述第二频率信号的周期数，计算所述任一接收时刻对应的所述第一频率信号的发射时间。