[发明专利]一种可监控光强度的光信号发射装置在审
| 申请号： | 201710866243.7 | 申请日： | 2017-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN109547097A | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 殷瑞麟;方生金;王远 | 申请（专利权）人： | 深圳市欧凌克光电科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/071 | 分类号： | H04B10/071;H04B10/079;H04B10/25;H04B10/50 |
| 代理公司： | 深圳市深联知识产权代理事务所(普通合伙) 44357 | 代理人： | 黄立强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华新区龙华街道清湖社*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光纤连接适配器 半导体激光器 光信号发射装置 光信号接收器 衰减机构 可监控 同轴水平 显示装置 检测光 可测量 光强 衰减 反射 量化 输出 发射 | ||
1.一种可监控光强度的光信号发射装置，包括：光纤连接适配器、半导体激光器，所述的光纤连接适配器、半导体激光器同轴水平放置，其特征在于，在所述的光纤连接适配器、半导体激光器之间设置光学衰减机构及光信号接收器，所述的半导体激光器发射出来的光信号分成两部分，第一部分光信号经光学衰减机构衰减后进入所述的光纤连接适配器，第二部分光信号经所述的光学衰减机构反射后进入能检测光强的光信号接收器，所述的光信号接收器将光强量化并输出至显示装置加以显示。
2.根据权利要求1所述的光信号发射装置，其特征在于，所述的光学衰减机构包括光学半衰片，所述的光学半衰片的法线与所述的光纤连接适配器、半导体激光器的连线呈45度设置，所述的半导体激光器所发射的光信号，经所述的光学半衰片后，50%的光强度透射进入所述的光纤连接适配器，用于信号传输；50%的光强度呈90度反射进入到所述的光信号接收器，经所述的光学半衰片的反射进所述的光信号接收器进行光信号强度检测。
3.根据权利要求1或2所述的光信号发射装置，其特征在于，所述的光信号接收器包括：
光照采集单元，用于采集所述的第二部分光信号；
光电转换单元，用于将所述的第二部分光信号进行光电转换成电流信号；
检测单元，用于检测所述的电流信号并显示数值大小。
4.根据权利要求3所述的光信号发射装置，其特征在于，所述的光照采集单元包括光敏传感器。
5.根据权利要求1至4任一项所述的光信号发射装置，其特征在于，所述的光纤连接适配器、半导体激光器、光学衰减机构及光信号接收器均设置于金属管座上。
6.根据权利要求3所述的光信号发射装置，其特征在于，所述的光信号接收器的光照采集单元的进光部垂直于所述的半体激光器与光纤连接适配器的连线。
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