[发明专利]一种氮化镓器件平坦化制程工艺在审
申请号: | 201710868001.1 | 申请日: | 2017-09-22 |
公开(公告)号: | CN107833832A | 公开(公告)日: | 2018-03-23 |
发明(设计)人: | 吴俊鹏;大藤彻;谢明达;叶顺闵 | 申请(专利权)人: | 叶顺闵;谢明达 |
主分类号: | H01L21/3105 | 分类号: | H01L21/3105 |
代理公司: | 北京华识知识产权代理有限公司11530 | 代理人: | 陈敏 |
地址: | 201204 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氮化 器件 平坦 化制程 工艺 | ||
1.一种氮化镓器件平坦化制程工艺,其特征在于,其工艺步骤如下:
S1、在主动和欧姆接触区(D)上依次沉积第一介电层(C)、第二介电层(B)和第三介电层(A),所述第一介电层(C)和第二介电层(B)分别采用不同的绝缘材料,所述第一介电层(C)和第三介电层(A)采用相同的绝缘材料;
S2、根据第一介电层(C)、第二介电层(B)采用的不同材料,调制出具有选择比配方的研磨液;
S3、采用化学机械研磨进行研磨,研磨时并及时向研磨面添加S2制作研磨液,研磨时首先对第一介电层(C)进行研磨,待第一介电层(C)和第二介电层(B)同时并存露于表面时停止研磨;
S4、根据第一介电层(C)、第二介电层(B)采用的不同材料,调制出没有选择比配方的蚀刻液;
S5、对S3研磨过后的第一介电层(C)和第二介电层(B)同时进行蚀刻,第一介电层(C)和第二介电层(B)等速率的被蚀刻,待第二介电层(B)被蚀刻完后,只留下平整的第三介电层(A),停止蚀刻,即可完成平坦化制程。
2.根据权利要求1所述的一种氮化镓器件平坦化制程工艺,其特征在于:所述S1中第一介电层(C)和第三介电层(A)采用氧化硅材料,所述第二介电层(B)采用氮化硅材料,所述S2中研磨液的配方为:聚丙烯酸乳为0.1-0.4%;三聚磷酸盐为0.2-0.5%;硝酸为1-3%;无离子水为剩余余量。
3.根据权利要求1所述的一种氮化镓器件平坦化制程工艺,其特征在于:所述S3研磨完成后采用材质为PVA的刷子和超音波震荡的方式去除表面的杂质。
4.根据权利要求1所述的一种氮化镓器件平坦化制程工艺,其特征在于:所述S4中蚀刻液的配方为:氢氟酸为55-60%;醋酸12-20%;无离子水为剩余余量。
5.根据权利要求1或4所述的一种氮化镓器件平坦化制程工艺,其特征在于:所述S4中采用湿式蚀刻方式进行蚀刻。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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