[发明专利]一种过套管地层微分电阻率测井方法有效
申请号: | 201710871003.6 | 申请日: | 2017-09-23 |
公开(公告)号: | CN107575220B | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 沈建国;谭刚;舒敦利 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | E21B49/00 | 分类号: | E21B49/00;E21B47/13 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 吴学颖 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 套管 地层 微分 电阻率 测井 方法 | ||
1.一种过套管地层微分电阻率测井方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一,在套管井中用瞬变激发方式激励发射线圈,产生连续的电磁感应瞬态信号,在套管井中产生电磁感应响应信号,电磁感应瞬态信号的频谱包络线与频率成反比,电磁能量穿过套管进入地层,在地层中产生涡流;
步骤二,与发射线圈同轴放置并且间隔一段距离的接收线圈将接收到电磁感应响应波形,该波形主要由套管和地层的直接耦合信号和涡流电磁感应信号组成,地层的涡流电磁感应信号携带地层电阻率信息;
步骤三,用相邻深度所测量的电磁感应响应波形相减,去掉套管和地层的直接耦合信号和套管的涡流电磁感应信号,仅剩余相邻两点地层的涡流电磁感应信号的差,该信号差与地层的电导率差成正比;
步骤四,用刻度系统将所测量的信号差刻度成地层的电导率差——电导率对深度的微分;
步骤五,用积分的方法将地层的电导率差转换为地层的电导率;
步骤六,对地层的电导率取倒数获得地层的电阻率值,对每个深度进行连续测量便获得连续的地层电阻率曲线。
2.根据权利要求1所述的过套管地层微分电阻率测井方法,其特征在于,步骤五中所述地层的电导率差转换为地层的电导率的过程:首先给定初值,然后对电导率差进行累加,最后再乘以深度间隔。
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