[发明专利]一种瞬变电磁管道缺陷扫查方法及装置在审
申请号: | 201710872279.6 | 申请日: | 2017-09-25 |
公开(公告)号: | CN107402254A | 公开(公告)日: | 2017-11-28 |
发明(设计)人: | 崔建杰 | 申请(专利权)人: | 天津特米斯科技有限公司 |
主分类号: | G01N27/82 | 分类号: | G01N27/82 |
代理公司: | 天津市尚文知识产权代理有限公司12222 | 代理人: | 张东浩 |
地址: | 300000 天津市红桥区铃铛阁街*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电磁 管道 缺陷 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及化工集输管道故障检测技术领域,尤其是涉及一种瞬变电磁管道缺陷扫查方法及装置。
背景技术
目前,基础化工和石油炼化装置运行过程中,对重点高腐蚀风险的管线壁厚减薄状态进行监测非常必要,对于管线腐蚀情况的检测通常采用传统的超声波测厚仪进行定点测厚。
超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
在实现本发明过程中,发明人发现现有技术中至少存在如下问题:传统的管道定点测厚方法,通常依靠相关风险标准和专家经验选点,具有不稳定性,不能适应现场复杂多变的环境,往往造成漏检的情况,无法检测出严重缺陷区域,为后续工作留下了安全隐患。超声波测厚仪定点测厚保证了剩余壁厚数据的准确性,但无法保证布点位置的准确性。且操作人员采用传统方式进行化工集输管道检测时,操作繁琐复杂,耗费时间长,增加了其使用成本。因此,现有技术存在检测点位置准确性差、检测过程耗时长的技术问题。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种瞬变电磁管道缺陷扫查方法及装置,以缓解现有技术存在的检测点位置准确性差、检测过程耗时长的技术问题。
第一方面,本发明实施例提供了一种瞬变电磁管道缺陷扫查装置,包括:瞬变电磁主机、阵列式传感器组件和数据处理终端;
瞬变电磁主机分别与阵列式传感器组件和数据处理终端相连接;
瞬变电磁主机接收启动信号,根据启动信号,发送检测输出脉冲;
阵列式传感器组件接收并发送检测输出脉冲,生成阵列反馈脉冲和位移数据,并发送阵列反馈脉冲和位移数据;
瞬变电磁主机还接收阵列反馈脉冲和位移数据,根据阵列反馈脉冲和位移数据生成管道检测数据,并发送管道检测数据;
数据处理终端接收管道检测数据,根据管道检测数据生成管道缺陷信息和管道三维图形信息。
本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式,其中,阵列式传感器组件包括:安装架、脉冲传感器、位移传感器、通讯器和打点标记器;
安装架上装配有至少三个脉冲传感器,脉冲传感器呈圆弧状分布在安装架的内侧面,位移传感器和打点标记器设置在安装架的内侧面,分别与脉冲传感器、位移传感器、打点标记器相连接的通讯器设置于安装架的外侧面;
脉冲传感器探测管道的腐蚀缺陷情况并生成阵列反馈脉冲;
位移传感器根据移动轨迹生成位移数据;
通讯器发送阵列反馈脉冲和位移数据;
打点标记器根据脉冲传感器发送的阵列反馈脉冲启动打点标记。
本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式,其中,数据处理终端包括: 管道缺陷信息生成模块和三维图形信息生成模块;
管道缺陷信息生成模块根据管道检测数据生成管道缺陷信息;
三维图形信息生成模块根据管道检测数据生成管道三维图形信息。
本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式,其中,瞬变电磁主机包括: 电源、发射线圈、接收线圈、微处理器、内存、串口和显示屏。
本发明实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式,其中,管道缺陷信息包括缺陷位置信息和缺陷值信息。
结合第一方面的第一种可能的实施方式,本发明实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式,其中,安装架的外侧面还设置有手柄。
第二方面,本发明实施例提供了一种瞬变电磁管道缺陷扫查方法,包括:
检测步骤:接收启动信号,根据启动信号,发送检测输出脉冲;
反馈步骤:接收阵列反馈脉冲和位移数据,根据阵列反馈脉冲和位移数据生成管道检测数据,并发送管道检测数据。
本发明实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式,其中,检测步骤后还包括:
采集步骤:接收并发送检测输出脉冲,生成阵列反馈脉冲和位移数据,并发送阵列反馈脉冲和位移数据。
本发明实施例提供了第二方面的第二种可能的实施方式,其中,反馈步骤后还包括:
数据处理步骤:接收管道检测数据,根据管道检测数据生成管道缺陷信息和管道三维图形信息。
结合第二方面的第二种可能的实施方式,本发明实施例提供了第二方面的第三种可能的实施方式,其中,管道缺陷信息包括缺陷位置信息和缺陷值信息。
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