[发明专利]测距装置及测距方法

权利要求书

1.一种测距装置，其特征在于，包括：光源阵列、接收阵列以及处理模块；

所述光源阵列为至少两个光源组成的阵列；所述至少两个光源在不同的时间段内向待测物体发射入射光信号；

所述接收阵列用于接收反射光信号，并将所述反射光信号转换为第一电信号，以及将所述入射光信号转换为第二电信号；所述反射光信号为所述入射光信号遇到所述待测物体后反射回来的光信号；

所述处理模块，用于对所述第一电信号与所述第二电信号进行处理，得到与所述至少两个光源对应的至少两个深度数据阵列，并按照所述至少两个光源的分布方式对所述至少两个深度数据阵列进行组合，得到组合的深度数据阵列，以及基于所述组合的深度数据阵列得到所述待测物体的三维深度信息。

2.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述光源阵列为M×N的光源阵列；其中，M、N均为大于1的自然数。

3.根据权利要求2所述的测距装置，其特征在于，所述光源阵列为2×2的光源阵列。

4.根据权利要求2所述的测距装置，其特征在于，所述N等于1。

5.根据权利要求2所述的测距装置，其特征在于，所述M等于1。

6.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述至少两个光源中每个光源为独立光源。

7.根据权利要求6所述的测距装置，其特征在于，所述至少两个光源围绕所述接收阵列设置。

8.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述光源阵列为同一光源的不同发光区形成的阵列。

9.根据权利要求8所述的测距装置，其特征在于，所述光源阵列与所述接收阵列相邻。

10.一种测距方法，其特征在于，应用于测距装置，所述测距装置包括：光源阵列、接收阵列以及处理模块；所述测距方法，包括：

由所述至少两个光源在不同的时间段内向待测物体发射入射光信号；

通过所述接收阵列接收反射光信号，并将所述反射光信号转换为第一电信号，以及将所述入射光信号转换为第二电信号；所述反射光信号为所述入射光信号遇到所述待测物体后反射回来的光信号；

通过所述处理模块对所述第一电信号与所述第二电信号进行处理，得到与所述至少两个光源对应的至少两个深度数据阵列，并按照所述至少两个光源的分布方式对所述至少两个深度数据阵列进行组合，得到组合的深度数据阵列，以及基于所述组合的深度数据阵列得到所述待测物体的三维深度信息。