[发明专利]一种光电耦合开关试验箱

说明书

本申请公开了一种光电耦合开关试验箱，包括箱体和设置于箱体内的光电耦合开关测试结构，所述光电耦合开关测试结构包括设置于箱体内的万用表、多个用于放置光电耦合开关的光电耦合开关安装槽，所述箱体内设置有万用表安装槽和表笔安装槽，所述万用表设置于所述万用表安装槽内，所述表笔设置于表笔安装槽内，所述光电耦合开关安装槽的两侧分别设置有用于标识光电耦合开关的引脚的数字，所述光电耦合开关安装槽内设置有光电耦合开关的夹块，所述夹块通过弹簧与光电耦合开关安装槽的侧壁连接，且所述弹簧为2个。本申请的上述技术方案，操作方便，成功率较高，便于在产业上推广和使用。

技术领域

本公开一般涉及光电耦合开关测试设备技术领域，具体涉及一种光电耦合开关试验箱。

背景技术

光电耦合开关是一种电信号的耦合器件，它一般是将发光二极管和光敏二/三极管的光路耦合在一起，其输入和输出之间可以不共地，输入信号加于发光二极管上，输出信号由光敏二/三极管取出。光电耦合开关体积小，传输信号的频率高，使用方便。

当前，人们测试光电耦合开关的好坏，通常有万用表法、设计测试电路方法等，对于万用表法，是利用万用表测试光电耦合开关的不同引脚的测量值，根据测量值判定耦合开关的好坏，该方法简单、使用，然而，当前人们在使用该方法的时候，通常将光电耦合开关放置于操作台上，利用万用表进行测量，由于光电耦合开关较小，容易移动，因此，经常造成接触不良等，进而出现测量错误，测量效率较差。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种光电耦合开关试验箱。

第一方面，本申请提供了一种光电耦合开关试验箱，包括箱体和设置于箱体内的光电耦合开关测试结构，所述光电耦合开关测试结构包括设置于箱体内的万用表、多个用于放置光电耦合开关的光电耦合开关安装槽，所述箱体内设置有万用表安装槽和表笔安装槽，所述万用表设置于所述万用表安装槽内，所述表笔设置于表笔安装槽内，所述光电耦合开关安装槽的两侧分别设置有用于标识光电耦合开关的引脚的数字，所述光电耦合开关安装槽内设置有光电耦合开关的夹块，所述夹块通过弹簧与光电耦合开关安装槽的侧壁连接，且所述弹簧为2个。

其中，所述万用表安装槽上下两端分别设置有用于对万用表限位的上限位件和下限位件。

其中，所述上限位件和下限位件结构对称，均包括限位片和固定轴，所述固定轴的下端与箱体连接，所述限位片与所述固定轴滑动连接，可绕所述固定轴水平旋转。

其中，所述固定轴上套接有扭簧。

其中，所述表笔安装槽的两侧分别安装一个位置相对应的用于对表笔限位的弹性卡块，所述弹性卡块为弯状结构，弹性卡块的下端与箱体固定连接。

其中，所述弹性卡块为塑料材质或橡胶材质。

其中，任一光电耦合开关安装槽的一侧均设置有一个LED灯和设置于所述LED灯的一侧的用于控制所述LED灯的开关。

根据本申请实施例提供的技术方案，提供了一种光电耦合开关试验箱，包括箱体和设置于箱体内的光电耦合开关测试结构，可将万用表放置于万用表安装槽内，将光电耦合开关放入光电耦合开关安装槽内，且通过与弹簧连接的夹块将光电耦合开关固定住，使得测试的时候，光电耦合开关无法随意转动，提高操作的成功率，同时，弹性夹块的设置可以使得多个型号大小的光电耦合开关安装于光电耦合开关安装槽内；同时，标识数字的引脚，便于操作者记忆操作的顺序，也可提高操作成功率。

第二方面，提供的光电耦合开关试验箱，还包括与所述箱体铰接连接的箱盖，所述箱体上设置有锁块，所述箱盖上设置有锁耳，所述锁块与锁耳相配合使用，所述锁耳上设置有锁孔，所述锁块卡入所述锁孔内，用于箱体与箱盖的锁闭。

其中，所述箱盖内设置有光电耦合开关测试结构。