[发明专利]模拟测量方法、测量数据拟合方法及化学发光测定仪

权利要求书

1.一种测量数据拟合方法，用于对模拟测量方法和单光子计数法的测量数据进行拟合，所述模拟测量方法是将光信号转换为电压信号，并通过模数转换器根据预设时间段内的电压差值输出模数转换值，根据所述模数转换值计算出光信号的第一模拟计数值；所述单光子计数法是将光信号中的入射光子经过光电倍增管进行增强、放大后输出脉冲电流，并对所述脉冲电流经过前置放大器的电压放大，再进行滤波处理获得波形平缓的脉冲信号，将所述波形平缓的脉冲信号经过脉冲整形、分频处理后发送至微处理器计数，从而获得单光子计数值，

所述测量数据拟合方法包括：

获取所述单光子计数值和所述模数转换值；

当所述单光子计数值大于第一预设阈值时对所述单光子计数值进行线性延伸，得到对不同光信号强度的第二模拟计数值；

根据所述模数转换值与所述第二模拟计数值通过最小二乘法进行数据拟合，得到数据拟合曲线。

2.根据权利要求1所述的测量数据拟合方法，其特征在于，所述第二模拟计数值与模数转换值呈线性关系。

3.根据权利要求2所述的测量数据拟合方法，其特征在于，所述第二模拟计数值是模数转换值的一次函数。

4.一种化学发光测定仪，其特征在于，包括测量室，所述测量室采用如权利要求1-3任一项所述的测量数据拟合方法，对模拟测量方法和单光子计数法的测量数据进行拟合分析。