[发明专利]一种存储设备测试方法、系统、设备及计算机存储介质

说明书

技术领域

本发明涉及存储设备测试技术领域，更具体地说，涉及一种存储设备测试方法、系统、设备及计算机存储介质。

背景技术

随着互联网的高速发展，数据也随之爆发式增长，通常用户会选择高效率低成本的存储设备来存储数据，这就需要对存储设备的效率进行测试。

现有的一种测试存储设备的方法是采用fio(IOPS压力测试工具)作为测试工具对存储设备进行效率测试，此工具可以按照设定的速率向磁盘并向写入或读取一定数量的数据，获得数据输入输出的速率，以此作为评价存储设备效率的指标，但是，测试时的读写速率、读写并发量、文件尺寸等测试参数需要用户自行组合。

然而，由于测试参数的复杂性，用户难以自已组合出合适的测试参数，进而使得测试过程的测试效率较低。

综上所述，如何提高存储设备测试过程的测试效率是目前本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种存储设备测试方法，其能在一定程度上解决如何提高存储设备测试过程的测试效率的技术问题。本发明还提供了一种存储设备测试系统、设备及计算机存储介质。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种存储设备测试方法，包括：

获取取值范围预先确定的N类测试参数；

从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同；

判断参与所述性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，若是，则执行所述从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组的步骤，若否，则结束测试，所述计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。

优选的，判断参与所述性能测试的测试参数组的组数等于计算值之后，还包括：

基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价。

优选的，所述基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价之前，还包括：

获取所述存储设备的价格；

所述基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价，包括：

将每一类测试参数对应的性能指数除以所述价格得到对应的比值，基于所述比值对所述存储设备进行性能评价；

所述基于所述比值对所述存储设备进行性能评价之后，还包括：

生成每一类测试参数与对应的比值的曲线图。

本发明还提供了一种存储设备测试系统，包括：

获取模块，用于获取取值范围预先确定的N类测试参数；

组合模块，用于从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同；

判断模块，用于判断参与所述性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，若是，则提示所述组合模块从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，若否，则结束测试，所述计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。

优选的，还包括：

性能评价模块，用于在所述判断模块判断参与所述性能测试的测试参数组的组数等于计算值之后，基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价。

优选的，还包括：

价格获取模块，用于在所述性能评价模块基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价之前，获取所述存储设备的价格；

所述性能评价模块包括：

计算单元，用于将每一类测试参数对应的性能指数除以所述价格得到对应的比值，基于所述比值对所述存储设备进行性能评价；

还包括：

生成模块，用于在所述性能评价模块基于所述比值对所述存储设备进行性能评价之后，生成每一类测试参数与对应的比值的曲线图。

本发明还提供了一种存储设备测试设备，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序以实现上述存储设备测试方法的步骤。

本发明还提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上所述存储设备测试方法的步骤。