[发明专利]一种液晶屏对位偏移缺陷检测方法

权利要求书

1.一种液晶屏对位偏移缺陷检测方法，该方法包括：

步骤1：采用红色可见光对液晶屏进行补光，获取液晶屏玻璃层可见光图像；

步骤2：采用红外光对对液晶屏进行补光，获取液晶屏电极层红外光图像；

步骤3：对获取的玻璃层可见光图像和电极层红外光图像，分别进行灰度处理，再采用不同的阈值进行二值化处理，用于得到玻璃层和电极层的二值化图像；

步骤4：采用标准的mark标志图像对玻璃层二值化图像中各区域图像进行匹配，找到玻璃层二值化图像中mark标志，采用相同方式找到电极层二值化图像中的mark标志；

步骤5：对玻璃层二值化图像中mark标志和电极层二值化图像中的mark标志分别进行轮廓提取；

步骤6：分别计算出玻璃层mark标志轮廓和电极层mark标志轮廓的中心点，通过两中心点的重合度来判断液晶屏对位是否偏移。

2.如权利要求1所述的一种液晶屏对位偏移缺陷检测方法,其特征在于所述步骤4的匹配方法为：通过计算两图像的匹配度，找出匹配度最大的区域即mark标志；匹配度的计算方法为：

其中，R(x,y)表示当二值模板mark图像在待检测图像中上滑动时，与其中心重合的二值待匹配图像相应区域的匹配度大小，R(x,y)的值越小表示匹配度越大，T(x',y')表示二值模板mark图像，I(x,y)表示二值待匹配图像，(x',y')表示二值模板mark图像在二值待匹配图像上滑动时两者重合区域对应的所有像素，(x,y)表示匹配区域的坐标，取值与模板图像的范围一致。

3.如权利要求1或2所述的一种液晶屏对位偏移缺陷检测方法,其特征在于所述步骤5的轮廓提取方法为分别对步骤4中获得的玻璃层二值化图像和电极层图像进行孔洞填充，然后对孔洞填充图进行连通域标记，连通域标记只标记像素值为255的像素。