[发明专利]氮化物荧光体的制造方法、及氮化物荧光体有效

专利信息
申请号: 201710889222.7 申请日: 2017-09-27
公开(公告)号: CN107880883B 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 细川昌治;仓本大树 申请(专利权)人: 日亚化学工业株式会社
主分类号: C09K11/79 分类号: C09K11/79
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 沈雪
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 氮化物 荧光 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种氮化物荧光体的制造方法,其包含:

将含有选自Ba、Sr、Ca及Mg中的至少一种碱土金属元素的第一化合物、含有选自Eu、Ce、Tb及Mn中的至少一种元素的第二化合物、含有Si的化合物在含氮氛围中进行热处理,得到原料烧成物的工序;

将所述原料烧成物、含有Ba的化合物、含有Si的化合物、根据需要添加的含有选自Eu、Ce、Tb及Mn中的至少一种元素的第三化合物、根据需要添加的含有选自Sr、Ca及Mg中的至少一种碱土金属元素的第四化合物,在含氮氛围中进行热处理,得到氮化物荧光体的工序,

其中,以使所述原料烧成物具有下述式(I)表示的投料组成的方式,对各化合物进行热处理,

(SrqM1sM2t)2Si5N8 (I)

式(I)中,M1为选自Ba、Ca及Mg中的至少一种碱土金属元素,M2为选自Eu、Ce、Tb及Mn中的至少一种元素,q、s、t为满足0.600≤q≤0.999、0≤s≤0.3、0.001≤t≤0.100、0.9<q+s+t≤1.0的数,

所述氮化物荧光体具有下述式(II)表示的组成,

(BavSrwM3xM2y)2Si5N8-z (II)

式(II)中,M3为选自Ca及Mg中的至少一种碱土金属元素,M2为选自Eu、Ce、Tb及Mn中的至少一种元素,v、w、x、y、z为满足0.300≤v≤0.899、0.100≤w≤0.700、0≤x≤0.6、0.001≤y≤0.100、0.9<v+w+x≤1.0、0≤z≤0.5的数,

所述得到原料烧成物的工序中的Ba的投料摩尔量相对于所述原料烧成物所含有的所述至少一种碱土金属元素的总投料摩尔量之比小于所述得到氮化物荧光体的工序中的Ba的投料摩尔量相对于所述氮化物荧光体所含有的所述至少一种碱土金属元素的总投料摩尔量之比。

2.如权利要求1所述的氮化物荧光体的制造方法,其中,

Ba的投料摩尔量相对于所述原料烧成物所含有的所述至少一种碱土金属元素的总投料摩尔量之比B1为0以上且低于0.3,

Ba的投料摩尔量相对于所述氮化物荧光体所含有的所述至少一种碱土金属元素的总投料摩尔量之比B2为0.3以上且低于1.0。

3.如权利要求1或2所述的氮化物荧光体的制造方法,其中,

通过激光衍射散射式粒度分布测定法测定的所述原料烧成物的体积平均粒径Dm1为5.0μm以上且20.0μm以下。

4.一种氮化物荧光体,其具有下述式(II)表示的组成:

(BavSrwM3xM2y)2Si5N8-z (II)

式(II)中,M3为选自Ca及Mg中的至少一种碱土金属元素,M2为选自Eu、Ce、Tb及Mn中的至少一种元素,v、w、x、y、z为满足0.300≤v≤0.899、0.100≤w≤0.700、0≤x≤0.6、0.001≤y≤0.100、0.9<v+w+x≤1.0、0≤z≤0.5的数,

其中,通过FSSS法测定的氮化物荧光体的平均粒径N相对于通过激光衍射散射式粒度分布测定法测定的氮化物荧光体的体积平均粒径Dm2之比N/Dm2为0.75以上且1.00以下,

通过FSSS法测定的所述氮化物荧光体的平均粒径N为7.0μm以上且20.0μm以下,

所述氮化物荧光体通过激光衍射散射式粒度分布测定法测定的体积基准的粒度分布中的标准偏差为0.30以下。

5.如权利要求4所述的氮化物荧光体,其中,

在所述式(II)中,v、w、y满足0.500≤v≤0.880、0.120≤w≤0.650、0.002≤y≤0.080。

6.如权利要求4或5所述的氮化物荧光体,其中,

所述氮化物荧光体的体积平均粒径Dm2为8.0μm以上且20.0μm以下。

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