[发明专利]阵列感应、侧向测井的砂岩储层可动水饱和度定量评价方法

权利要求书

1.阵列感应、侧向测井的砂岩储层可动水饱和度定量评价方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)以阿尔奇公式为含水饱和度计算模型，分别利用侧向深电阻率和感应深电阻率计算储层的含水饱和度；

2)对感应深电阻率计算得到的含水饱和度进行束缚水饱和度校正；

3)经过泥质束缚水饱和度校正的感应含水饱和度与侧向深电阻率计算得到的含水饱和度的差值即为增量D；

4)增量D与侧向深电阻率计算得到的含气饱和度的比值即可用来定量评价可动水饱和度。

2.根据权利要求1所述的阵列感应、侧向测井的砂岩储层可动水饱和度定量评价方法，其特征在于，所述步骤1)中，阿尔奇公式如下：

阿尔奇公式：

其中：

S_w为含水饱和度，％；φ为孔隙度，％；R_w为地层水电阻率，Ω.m；R_t为岩石真电阻率，Ω.m；a、b、m、n分别为岩电参数，无量纲。

3.根据权利要求1所述的阵列感应、侧向测井的砂岩储层可动水饱和度定量评价方法，其特征在于，所述步骤2)中，对感应深电阻率计算得到的含水饱和度进行束缚水饱和度校正如下：

用感应深电阻率计算含水饱和度减去泥质校正因子ak与泥质含量的乘积，即完成泥质束缚水饱和度校正；

泥质束缚水饱和度校正公式：S_fI＝S_wI-ak*SH

其中：

S_fI为感应深电阻率计算的经过泥质束缚水饱和度校正的含水饱和度，％；S_wI为感应深电阻率计算的含水饱和度，％；ak为泥质校正因子，无量纲；SH为泥质含量，％；ak的取值标准为，泥质砂岩致密储层的侧向深电阻率计算含水饱和度等于该校正后的含水饱和度。

4.根据权利要求3所述的阵列感应、侧向测井的砂岩储层可动水饱和度定量评价方法，其特征在于，所述步骤3)中，增量D通过下式得到：

D＝S_wI-ak*SH-S_wL

其中：

S_wL为侧向深电阻率计算的含水饱和度，％。

5.根据权利要求1所述的阵列感应、侧向测井的砂岩储层可动水饱和度定量评价方法，其特征在于，所述步骤4)中，计算可动水饱和度定量评价参数

将计算得到的增量D与侧向深电阻率计算的含气饱和度的比值即为评价可动水饱和度的定量参数，其中，S_gL为侧向深电阻率计算的含气饱和度，％；

含气饱和度由含水饱和度计算得到；

含气饱和度S_g＝1-S_w

其中：

S_g为侧向深电阻率计算的含气饱和度，％；S_w为含水饱和度，％。