[发明专利]一种角反射体自动识别方法有效
申请号: | 201710895121.0 | 申请日: | 2017-09-28 |
公开(公告)号: | CN107742298B | 公开(公告)日: | 2020-03-27 |
发明(设计)人: | 张品;张立平;孙长燕;孟祥杰 | 申请(专利权)人: | 北京华航无线电测量研究所 |
主分类号: | G06T7/11 | 分类号: | G06T7/11;G06T7/00;G06T7/60 |
代理公司: | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人: | 胡时冶;张春 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 反射 自动识别 方法 | ||
1.一种角反射体自动识别方法,其特征在于,所述方法包括:
步骤1:输入待处理的感兴趣图像;
步骤2:对所述感兴趣图像求取sobel水平梯度信息,并对所述sobel水平梯度信息进行二值化,形成特征二值图;
步骤3:根据遥测数据和角反尺寸,获取在图像中的角反成像大小;
步骤4:根据角反成像大小,在特征二值图上进行滑窗搜索,获取包含梯度信息最大的潜在区域;
步骤5:将所述潜在区域进行外扩形成扩展区域;
步骤6:设计窗口模板,在所述扩展区域内遍历统计内外区域的特征点分布情况,取内外特征数比值最小的区域作为待测图像;
步骤7:在待测图像内,根据每个角度单位下的特征数判断感兴趣图像中的待测目标是否为角反射体。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤1中,所述待处理的感兴趣图像为I(x,y),其中,x为横坐标,y为纵坐标。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述步骤2中,感兴趣图像I(x,y)的sobel水平梯度计算公式为
G(x,y)=(I(x+1,y-1)+2*I(x+1,y)+I(x+1,y+1))
-(I(x-1,y-1)+2*I(x-1,y)+I(x-1,y+1))。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤2中,对所述sobel水平梯度信息进行二值化,形成特征二值图,具体为:取水平梯度的最大值和最小值之和的一半作为阈值t,大于该阈值t的取1,小于该阈值t的取0。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤3:根据遥测数据和角反尺寸,获取角反在图像中的成像大小m*n,具体包括:
角反成像大小的计算公式为
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤4:根据角反成像大小m*n,在特征二值图上滑窗搜索,获取包含梯度信息最大的潜在区域;具体包括:
在特征二值图上遍历滑窗搜索,统计每个像素在角反成像大小m*n邻域内的特征数之和,其最大值所在的区域就是包含梯度信息最大的潜在区域。
7.如权利要求5或6所述的方法,其特征在于,所述步骤5:将所述潜在区域进行外扩形成扩展区域;具体包括:将所述潜在区域左右各外扩k倍,形成扩展区域。
8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述步骤5:将所述潜在区域进行外扩形成扩展区域;具体包括:扩展区域的大小为p*q,其中p=(1+k)*m,q=(1+k)*n。
9.如权利要求1-6、8中任一项所述的方法,其特征在于,所述步骤7:在待测图像内,根据每个角度单位下的特征数判断感兴趣图像中的待测目标是否为角反射体,具体包括:在待测图像内,以图像中心点为中心,在一定半径范围内进行角度直方图统计,计算每个角度单位下的特征数,若特征数为0的角度单位个数小于角反射体阈值,则判定其为角反射体。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京华航无线电测量研究所,未经北京华航无线电测量研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710895121.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。