[发明专利]基于高光谱的绝缘子污秽等级检测方法及系统

权利要求书

1.一种基于高光谱的绝缘子污秽等级检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取未知污秽等级的绝缘子高光谱图像；

通过污秽等级模型对所述未知污秽等级的绝缘子高光谱图像进行处理，判定污秽等级；所述污秽等级模型是根据不同污秽等级绝缘子污秽图像的特征波长建立的。

2.根据权利要求1所述的基于高光谱的绝缘子污秽等级检测方法，其特征在于，步骤1在获取检测绝缘子的高光谱图像后，对检测绝缘子的高光谱图像进行校正，所述校正包括黑白校正和多元散射校正。

3.根据权利要求1所述的基于高光谱的绝缘子污秽等级检测方法，其特征在于，步骤2中所述提取特征波长是采用连续投影算法进行提取。

4.根据权利要求1所述的基于高光谱的绝缘子污秽等级检测方法，其特征在于，步骤3中具体是采用特征波长信息、选取训练样本、量化污秽等级、并用偏最小二乘法建立污秽等级模型，再用训练样本选取剩余的其他样本作为测试样本对污秽等级模型进行优化。

5.根据权利要求1所述的基于高光谱的绝缘子污秽等级检测方法，其特征在于，步骤3中所述量化污秽等级，具体包括：第一等级、第二等级、第三等级和第四等级，四种复合绝缘子的污秽等级量化为第一等级域、第二等级域、第三等级域和第四等级域。

6.根据权利要求1所述的基于高光谱的绝缘子污秽等级检测方法，其特征在于，步骤3中所述污秽等级模型为：

y＝a1x1+…+amxm

其中，x1、x2、......、xm是第m个特征波段处的标准化反射率，aj1、aj2、......、ajm是复合绝缘子污秽等级模型待求解系数，y是污秽等级复合绝缘子对应的量化系数，p为不同预测量的个数。

7.根据权利要求1所述的基于高光谱的绝缘子污秽等级检测方法，其特征在于，所述步骤4具体是从未知污秽等级的绝缘子高光谱图像上提取污秽区域伞裙的像素，通过污秽等级模型进行预测，得出污秽等级系数，判定污秽等级。

8.根据权利要求2所述的基于高光谱的绝缘子污秽等级检测方法，其特征在于，所述黑白校正具体为：

其中，R为校正后的反射光谱图像，R0为样本原始的反射光谱图像，D为标准黑板的反射图像，W为标准白板的反射图像。