[发明专利]数据完整性保护方法、设备、系统及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 201710896703.0 申请日: 2017-09-27
公开(公告)号: CN107729769A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 赵辉宇;李诗逸;古亮;吴大立 申请(专利权)人: 深信服科技股份有限公司
主分类号: G06F21/64 分类号: G06F21/64
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所44287 代理人: 胡海国
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 数据 完整性 保护 方法 设备 系统 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种数据完整性保护方法,其特征在于,所述数据完整性保护方法包括以下步骤:

读取当前采样分析系统输出的采样方式和采样率;其中,所述采样方式和采样率为所述采样分析系统基于进行校验和处理所需的计算能力和存储能力分析所确定;

根据所述采样方式和采样率,对写入数据进行采样,并生成采样数据的校验和,以供用于在读取该采样数据时进行数据完整性验证。

2.如权利要求1所述的数据完整性保护方法,其特征在于,所述根据所述采样方式和采样率,对写入数据进行采样,并生成采样数据的校验和包括:

当所述采样方式为时间采样且为第n次采样时,获取本次对写入数据进行采样的初始时间t0,其中,n为正整数;

监测是否存在写IO操作;

当监测到写IO操作时,获取当前时间tn,并判断当前时间tn与初始时间t0之间的差值t是否大于或等于所述采样率;

若是,则对当前写IO操作所对应的写入数据进行采样,得到采样数据,并生成采样数据的校验和;

当本次采样完成时,将当前时间tn设置为下一次对写入数据进行采样的初始时间t0

3.如权利要求1所述的数据完整性保护方法,其特征在于,所述根据所述采样方式和采样率,对写入数据进行采样,并生成采样数据的校验和包括:

当所述采样方式为IO采样时,初始化计数器,并监测是否存在写IO操作;

当监测到写IO操作时,获取计数器的当前计数值N,并对当前计数值N与所述采样率进行取模运算,得到取模运算结果;

判断所述取模运算结果是否为零;

若所述取模运算结果为零,则对当前写IO操作或者包括当前写IO操作在内的连续多个写IO操作所对应的写入数据进行采样,得到采样数据,并生成采样数据的校验和,继续执行监测写IO操作。

4.如权利要求1所述的数据完整性保护方法,其特征在于,所述根据所述采样方式和采样率,对写入数据进行采样,并生成采样数据的校验和包括:

当所述采样方式为空间采样时,监测是否存在写IO操作;

当监测到写IO操作时,获取当前写IO操作所对应的数据存储偏移量,并对当前存储偏移量与所述采样率进行取模运算,得到取模运算结果;

判断所述取模运算结果是否为零;

若所述取模运算结果为零,则对当前写IO操作所对应的写入数据进行采样,得到采样数据,并生成采样数据的校验和。

5.如权利要求2-4中任一所述的数据完整性保护方法,其特征在于,所述数据完整性保护方法还包括:

在生成采样数据的校验和时,若所述采样方式为时间采样或IO采样,则生成校验和标识,并在写入采样数据时,将该采样数据的校验和、或者校验和与校验和标识一同写入。

6.如权利要求5所述的数据完整性保护方法,其特征在于,所述数据完整性保护方法还包括:

读取存储的数据D,或者还读取该数据D的校验数据,其中,所述校验数据至少包括该数据D的校验和C,或者还包括校验和标识F;

基于读取的数据,判断数据D是否为采样数据;

若数据D为采样数据,则计算该数据D的当前校验和C1,并判断校验和C1是否等于校验和C;

若校验和C1等于校验和C,则返回数据D,否则报错;

若数据D为非采样数据,则返回数据D。

7.一种数据完整性保护设备,其特征在于,所述数据完整性保护设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的数据完整性保护程序,所述数据完整性保护程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的数据完整性保护方法的步骤。

8.一种数据完整性保护系统,其特征在于,所述数据完整性保护系统包括权利要求7所述的数据完整性保护设备,所述数据完整性保护系统还包括采样分析系统;

所述采样分析系统用于:接收用于进行校验和处理所需的计算能力和存储能力;分析确定与所述计算能力和存储能力匹配的采样方式和采样率,并将所述采样方式和采样率输出到所述数据完整性保护设备。

9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有数据完整性保护程序,所述数据完整性保护程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的数据完整性保护方法的步骤。

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