[发明专利]一种封框胶检测系统及该系统包含的各装置和检测方法有效
申请号: | 201710897221.7 | 申请日: | 2017-09-28 |
公开(公告)号: | CN107515484B | 公开(公告)日: | 2020-04-24 |
发明(设计)人: | 郝延顺;庞鲁;包日玛 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G02F1/1339;G01B21/00 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 封框胶 检测 系统 包含 装置 方法 | ||
本发明公开了一种封框胶检测系统及该系统包含的各装置和检测方法,涉及封框胶检测技术领域,可简化因液晶泄漏问题而需调整基板上封框胶量的操作。本发明一种封框胶涂布检查机,包括通信模块,通信模块用于接收由可视检查机发送的显示面板中液晶泄漏的位置信息;检测模块,检测模块用于检测基板上待检位置的封框胶,得到涂胶检测结果,待检位置包括液晶泄漏的位置信息指示的位置;处理模块,处理模块用于获取涂胶检测结果与涂胶参考值之间的差值;通信模块还用于在差值表征待检位置的封框胶涂布不良的情况下,将用于指示待检位置中封框胶涂布不良的位置的信息、以及封框胶涂布不良的位置对应的差值或涂胶检测结果发给封框胶涂布机。
技术领域
本发明涉及封框胶检测技术领域,尤其涉及一种封框胶检测系统及该系统包含的各装置和检测方法。
背景技术
TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,薄膜场效应晶体管液晶显示器)产品的广泛应用于电子产品中,如薄膜晶体管液晶显示面板,具有高分辨率、高色彩饱和度、反应速度快、高开口率等优点,广泛应用于手机、平板电脑等电子产品。
现有技术中采用ODF(One Drop Fillling,液晶滴入制程)工艺制作显示面板,如在TFT基板(Thin Film Transistor,阵列基板)上滴液晶,在CF基板(Color Filter,彩膜基板)通过封框胶涂布机(SD,Seal Dispenser)上涂覆封框胶,再将TFT基板和CF基板对盒形成Cell(显示面板)。
在实际生产线上,操作人员需通过封框胶涂布检查机(SI,Seal Inspection)检查基板上封框胶的涂覆情况,当基板上的封框胶出现肥大、断胶和胶窄时,需操作人员对检测结果进行分析,以对封框胶涂布机的涂胶速度进行调整;当TFT基板和CF基板对盒后形成显示面板,还需操作人员通过可视检查机(VI,Visual Inspection)检测液晶泄漏(LC Leak,Liquid Crystal Leak)结果,并根据液晶泄漏检测结果对封框胶涂布机的涂胶速度进行调整。在上述对CF基板和显示面板的检查过程中,操作人员不仅需要时刻观察封框胶涂布检查机的数据,而且需要时刻观察可视检查机,并对两者的结果进行分析,再在封框胶涂布机进行相应的调整。因此,封框胶检查所需的人员较多,对操作人员的经验有一定的要求,操作较麻烦,工作效率低。
发明内容
本发明的实施例提供一种封框胶检测系统及该系统包含的各装置和检测方法,可简化因液晶泄漏问题而需调整基板上封框胶量的操作。
为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:
一种封框胶涂布检查机,包括:通信模块,所述通信模块用于接收由可视检查机发送的显示面板中液晶泄漏的位置信息;检测模块,所述检测模块用于检测基板上待检位置的封框胶,得到涂胶检测结果,所述待检位置包括所述液晶泄漏的位置信息指示的位置;处理模块,所述处理模块用于获取所述涂胶检测结果与涂胶参考值之间的差值;所述通信模块还用于在所述差值表征所述待检位置的封框胶涂布不良的情况下,将用于指示所述待检位置中封框胶涂布不良的位置的信息、以及所述封框胶涂布不良的位置对应的所述差值或所述涂胶检测结果发给封框胶涂布机。
本发明实施例还包括一种封框胶涂布机,包括用于承载基板的承载台和吐胶的喷嘴,其特征在于,还包括:接收模块,所述接收模块用于接收封框胶涂布检查机发出的用于指示基板上待检位置中封框胶涂布不良的位置的信息、以及所述封框胶涂布不良的位置对应的差值或涂胶检测结果;控制模块,所述控制模块可根据所述封框胶涂布不良的位置对应的差值或涂胶检测结果,调整基板上封框胶涂布不良的位置封框胶的喷涂量。
进一步地,所述控制模块用于调整所述承载台的运行速度或所述喷嘴吐胶的速度。
进一步地,所述喷嘴内设有吐胶腔,所述吐胶腔内设有压胶杆,所述压胶杆可沿上下方向往复移动。
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