[发明专利]一种基于互结构联合滤波的缺陷检测方法

说明书

本发明公开了一种基于互结构联合滤波的缺陷检测方法，包括以下步骤：采集标准图像及待判断图像，定义结构相似性矩阵；将图像划分为重叠的大小相同的小块，计算各小块之间的归一化的交叉相关性矩阵；计算小块之间的相似性度量；将所有小块的相似性度量相加组成相似性项Es，标准图像和待判断图像之间有一保真项Ed，还有一个系数的光滑项，三项组成待优化的能量方程求解；用交替迭代法求解能量方程；求得滤波后的标准图像和待判断图像，与原图像进行比较，得残差图像，设定残差图像阈值，若所得残差图像中存在大于阈值的部分，则该面板为有细缝的面板，判断为不合格，若所得残差图像中不存在大于阈值的部分，则该面板为合格面板。

技术领域

本发明涉及缺陷检测技术领域，尤其是涉及一种基于互结构联合滤波的缺陷检测方法。

背景技术

随着人们生活水平的不断提高以及电子设备不断普及，电子设备的生产出货量十分巨大，如何实现电子设备产品生产过程中缺陷的自动化检测，成为了各大厂商关注的问题之一。

其中电子设备玻璃盖板的生产工艺步骤多，存在很多问题，改进空间较大，主要存在的问题有：

目前常用的印刷缺陷检测方法通常采用的多是基于玻璃盖板图像的边缘提取算法，再分析轮廓及边缘的平整性和凹凸区域，但现有的技术还无法检出细微的缺陷，因为在细微的缺陷附近，常用的边缘提取算法无法准确的提取出边缘。

另外，现有的工艺是采用终检时人工目检，无法有效的预防因机器故障或破损导致的玻璃盖板破损，从破损第一次发生到终检时人工查出，已生产出一系列的破损件，无法及时调整，造成了厂商的损失和浪费。

发明内容

发明目的：为了克服现有技术中存在的不足，本发明提供一种基于互结构联合滤波的缺陷检测方法，能够实现破损件的自动化检测。

技术方案：为实现上述目的，本发明采用的技术方案为：

一种基于互结构联合滤波的缺陷检测方法，包括以下步骤：

步骤1)采集标准图像及待判断图像，定义结构相似性矩阵；

步骤2)将图像划分为重叠的大小相同的小块，计算各小块之间的归一化的交叉相关性矩阵；

步骤3)计算小块之间的相似性度量；

步骤4)将所有小块的相似性度量相加组成相似性项Es，标准图像和待判断图像之间有一保真项Ed，还有一个系数的光滑项，三项组成待优化的能量方程求解；

步骤5)用交替迭代法求解能量方程，得各变量的求解公式；

步骤6)求得滤波后的标准图像和待判断图像，与原图像进行比较，得残差图像，设定残差图像阈值，若所得残差图像中存在大于阈值的部分，则该面板为有细缝的面板，判断为不合格，若所得残差图像中不存在大于阈值的部分，则该面板为合格面板。

优选的：所述小块的大小为16*16像素。

优选的：所述重叠划分的重叠为8像素，即本行的小块之间重叠长为8像素，本行与上一行的小块之间重叠宽也为8像素。

优选的：所述归一化的交叉相关性矩阵为两小块之间的协方差矩阵除以两小块各自的方差矩阵开方。

优选的：所述残差图像阈值为0.8。

本发明相比现有技术，具有以下有益效果：

1.能够实现自动化检测，避免了人工终检带来的检验不及时的缺点。

2.利用互结构联合滤波可快速的得到滤波后图像，将滤波后图像与原图对比可明显的得到细小的结构，不会错过，极大的提升了判断力。

附图说明