[发明专利]电池检测框架及电池检测结构

说明书

本发明提供了一种电池检测框架及电池检测结构。电池检测框架包括第一集流体、第二集流体、第一隔离膜、第一极耳、第二极耳和两层包装膜。第一极耳固定于第一集流体，第二极耳固定于第二集流体，第一隔离膜设置于第一集流体和第二集流体之间。第一集流体、第一隔离膜和第二集流体设置在两层包装膜之间，两层包装膜在顶部封装，且第一极耳和第二极耳从两层包装膜顶部的封装处穿出。电池检测结构包括：第一方面所述的电池检测框架，且电池检测框架的两层包装膜还在周缘完全封装并形成封闭的包装袋；第一极片，插入到第一集流体和第一隔离膜之间；第二极片，插入到第二集流体和第一隔离膜之间；以及电解液，收容在包装袋内。

技术领域

本发明涉及电池领域，尤其涉及一种电池检测框架及电池检测结构。

背景技术

电池反向分析可以真实直观地得到电池结构、极片组成乃至材料的信息，但现有的反向分析技术多建立在材料水平的表征之上，例如扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、X射线衍射(XRD)等，针对的是活性材料界面或者体相的分析，而且大都是非原位的反向分析实验方法，不可避免的会对材料的初始状态产生破坏，因此很难得到反映真实状态的信息。其次，在极片层面上，极片表面的SEI(固态电解质)破坏、副产物堆积、枝晶生长以及材料孔隙结构的变化等众多因素都会对电池的整体性能有影响，但目前有关极片水平的反向分析往往只能依靠简单的肉眼观察或相机拍照来获取极片表观信息的层面，缺乏能够真正提供极片原位信息的表征方法。最后，从阻抗分析角度来看，目前仍然缺乏能在极片水平上定量分析阻抗特征的研究方法，而阻抗行为又跟电池的功率性能、产热温升、安全性能密切相关，因此急需建立一套普适的实验系统及方案来获得具有统一标准的有效阻抗测量数据，这也对反向研究方法提出了更高的需求。

发明内容

鉴于背景技术中存在的问题，本发明的目的在于提供一种电池检测框架及电池检测结构，其制备工艺简单，且能对电池的极片进行全面系统的反向分析。

为了实现上述目的，在第一方面，本发明提供了一种电池检测框架，其包括第一集流体、第二集流体、第一隔离膜、第一极耳、第二极耳和两层包装膜。第一极耳固定于第一集流体，第二极耳固定于第二集流体，第一隔离膜设置于第一集流体和第二集流体之间。第一集流体、第一隔离膜和第二集流体设置在两层包装膜之间，两层包装膜在顶部封装，且第一极耳和第二极耳从两层包装膜顶部的封装处穿出。

为了实现上述目的，在第二方面，本发明提供了一种电池检测结构，其包括：根据本发明第一方面所述的电池检测框架，且电池检测框架的两层包装膜还在周缘完全封装并形成封闭的包装袋；第一极片，插入到第一集流体和第一隔离膜之间；第二极片，插入到第二集流体和第一隔离膜之间；以及电解液，收容在包装袋内。

本发明的有益效果如下：

本发明的电池检测结构可用于电化学阻抗谱、直流电阻以及容量等测试，从而可以分析出第一极片和第二极片的电化学行为。本发明的电池检测结构可以方便地从极片水平上对不同类型和不同状态下的成品电池的组成部分的状态进行反向分离评估，有助于实现对电池中正极极片和负极极片等主要组成的状态进行全面系统的反向分析。同时，本发明的电池检测结构采用具有固定结构的电池检测框架，大大地简化了电池检测结构的制备工艺，缩短了待检测的极片从拆解到二次封装的操作时间，提高检测效率。

附图说明

图1为根据本发明的电池检测框架的示意图。

图2为图1的剖视图。

图3为根据本发明的电池检测框架成型前的示意图。

图4为根据本发明的电池检测结构的一实施例的示意图。

图5为图4的剖视图。

图6为图4的一分解图，其中电解液省略。

图7为根据本发明的电池检测结构的另一实施例的示意图。