[发明专利]触控处理装置、电子系统与其触控处理方法

说明书

本发明提供一种触控处理方法，用于设定电子系统中的触控面板与触控处理装置的连接参数。该触控处理方法包含：令该触控处理装置的连接网络分别连接第一装置接头的P条第一电路与该触控处理装置的侦测电路；以及令该侦测电路通过该连接网络依序侦测该P条第一电路中的每一条第一电路的阻抗值，以便根据该多个阻抗值来判断在该P条第一电路中有连续M条第一电路连接到M条第一触控电极。

技术领域

本发明是关于触控系统，特别是关于能自动侦测触控电极的连接参数的触控处理装置、电子系统与其触控处理方法。

背景技术

现代的消费性电子装置通常具有触控荧幕作为主要的输出入装置。一般的触控荧幕模块通常包含了多条触控电极，这些触控电极连接到触控处理装置。一般的触控处理装置可以包含一或多个集成电路的封装体，可以通过所连接的触控电极来侦测靠近或接触触控荧幕的外部导电物件与/或触控笔。

对于触控处理装置的制造厂商而言，一个型号的触控处理装置通常可以设计为连接不同厂牌的触控荧幕模块。这些触控荧幕模块的尺寸通常不一样，所具有的触控电极的数量也不相同。因此，对制造多种电子装置的厂商来说，可以使用单一型号的触控处理装置来连接不同电子装置的不同触控荧幕模块。在组装之后，厂商必须根据不同种类的电子装置来设定触控处理装置的参数。然而，尽管是相同型号的触控荧幕模块，也有可能在制造过程当中发生变化，需要针对这些参数进行调校与测试，使得电子装置的触控功能能够合乎出厂的标准。

除此之外，由于触控功能会遭受到电子装置周边的电磁干扰。即便是合乎出厂性能规格的电子装置，可能在不同的使用地点需要更新或校准参数，才能让使用者在其环境下正常地使用。因此，需要一种能够让使用者或制造者能够轻易设定与/或测试电子装置内的触控处理装置的方法。

再者，触控荧幕或触控面板在生产时会产生误差，甚至错误。例如触控电极断线、线宽或形状与设计不符等等问题。当触控处理装置使用上述出现问题的触控荧幕时，就会产生问题。其所侦测到的外部导电物件或触控笔位置就会产生超过范围的误差，甚至侦测不到外部导电物件或触控笔。因此，需要一种能够测试出触控荧幕有问题的触控处理装置，以便在组装厂内进行测试时，及早发现问题的来源。

在另一方面，需要一种能够测试出触控面板与触控处理装置的连接参数的方法，以及实作该方法触控处理装置。这种方法能够侦测触控面板上有多少条的触控电极，以及触控处理装置上分别有哪一些电路连接到这些触控电极。在另一方面，需要一种能够测试出触控面板上的触控电极是否有瑕疵的触控处理方法与装置。如果有瑕疵的话，是那些触控电极产生瑕疵。在另一方面，需要一种判断多个显示处理装置与多个触控处理装置的对应关系的电子系统，能够厘清多个触控荧幕所分别对应的显示处理装置与触控处理装置。

发明内容

在本发明的一实施例中，提供一种电子系统，用于设定触控面板与触控处理装置的连接参数。该电子系统包含第一装置接头、该触控面板与该触控处理装置。该触控面板包含：覆盖该触控面板的M条平行的第一触控电极，其中M为大于或等于2的正整数；以及第一触控电极接头，用于依序集束该M条第一触控电极。该第一装置接头用于依序集束连接该M条第一触控电极的P条第一电路与连接该第一触控电极接头，其中P为大于M的正整数。该触控处理装置包含：侦测电路、用于分别连接该第一装置接头的P条第一电路与该侦测电路的连接网络、以及微处理器。该微处理器，连接至该侦测电路与该连接网络，用于令该侦测电路通过该连接网络依序侦测该P条第一电路中的每一条第一电路的阻抗值，以便根据该多个阻抗值来判断在该P条第一电路中有连续M条第一电路连接到该连续M条第一触控电极。据此，该实施例能够侦测有多少条第一触控电极，以及侦测在P条第一电路中有那些第一电路连接到所述第一触控电极。