[发明专利]绝缘电阻与介质损耗测试一体化装置

权利要求书

1.一种绝缘电阻与介质损耗测试一体化装置，其特征在于，主要包括CPU、与CPU相连的信号输入模块、高压输出模块、介质损耗测量模块、绝缘电阻测量模块、人机交互模块，高压输出模块的输出端与被试设备的高压侧连接，被试设备的低压侧通过信号输入模块分别与介质损耗测量模块、绝缘电阻测量模块的输入端相连；

所述高压输出模块输入单相交流市电，输出高压交流电源或/和高压直流电源。

2.根据权利要求1所述的绝缘电阻与介质损耗测试一体化装置，其特征在于，所述高压输出模块包括可控硅调压电路、隔离变压器、全桥整流电路、Buck变换器、逆变电路、高频滤波电路、升压变压器、串级倍压整流电路、控制电路，隔离调压变压器、全桥整流电路、BUCK变换器、逆变电路、高频滤波电路依次相连，高频滤波电路的输出端分别与串级倍压整流电路、升压变压器相连，控制电路与逆变电路并联，可控硅调压电路、控制电路均与CPU相连。

3.根据权利要求1所述的绝缘电阻与介质损耗测试一体化装置，其特征在于，所述高压输出模块包括可控硅调压电路、隔离变压器、全桥整流电路、Buck变换器、逆变电路、高频滤波电路、双向切换开关、升压变压器、串级倍压整流电路、PWM电路、控制电路，隔离变压器、全桥整流电路、BUCK变换器、逆变电路、高频滤波电路、双向切换开关依次相连，双向切换开关的输出端分别与串级倍压整流电路、升压变压器相连，控制电路与逆变电路并联，可控硅调压电路、控制电路、双向切换开关均与CPU相连。

4.根据权利要求1所述的绝缘电阻与介质损耗测试一体化装置，其特征在于，所述绝缘电阻测量模块主要包括取样电阻网络电路、程控增益电路、A/D转换电路，取样电阻网络电路、程控增益电路、A/D转换电路依次连接，取样电阻网络电路、程控增益电路、A/D转换电路均与CPU相连；

所述取样电阻网络电路，通过改变取样电阻的阻值得到被测绝缘电阻两端的输出电压；

所述程控增益电路，对取样电阻网络电路输出的电压信号放大至适合A/D转换电路的精度；

所述A/D转换电路，将程控增益电路的输出电压转换为数字信号。

5.根据权利要求4所述的绝缘电阻与介质损耗测试一体化装置，其特征在于，所述取样电阻网络电路包括被测绝缘电阻Rx、取样电阻R1—R4、电阻R5—R8、运算放大器U1、电容C1、C2、继电器K1—K3，被测绝缘电阻Rx、取样电阻R1—R4依次串联，继电器K1—K3分别与取样电阻R1—R3并联，取样电阻R1—R4两端的电压分别输入U1的反向输入端与正向输入端，R6与反向输入端相连，R7与正向输入端相连，C1与R5并联后连接在U1的反向输入端与输出端之间，C2与R8并联后连接在U1的正向输入端。