[发明专利]一种通道型偏振光谱成像仪的偏振辐射标定系统以及方法

权利要求书

1.一种通道型偏振光谱成像仪的偏振辐射标定系统，其特征在于，所述通道型偏振光谱成像仪包括：在光束传播方向上依次设置的前置镜、第一多级波片、第二多级波片、偏振片、成像镜、狭缝以及光谱成像仪；

所述偏振辐射标定系统包括：积分球、平行光管、起偏器、可调孔阑、辅助波晶片、精密转台、三维精密调整平台、第一参考光谱辐亮度计和第二参考光谱辐亮度计；

所述起偏器可拆卸的安装在所述精密转台上，所述精密转台用于精确控制所述起偏器的通光轴方向；

所述可调孔阑用于控制偏振辐射标定中的光束宽度；

所述辅助波晶片的快轴方向与所述偏振片的通光轴方向垂直；

所述第一参考光谱辐亮度计放置在所述积分球的出光口处，所述第二参考光谱辐亮度计放置在所述可调孔阑后侧通光口处；

所述积分球、所述平行光管、所述精密转台、所述可调孔阑、所述辅助波晶片、所述第一参考光谱辐亮度计和所述第二参考光谱辐亮度计可拆卸的安装在所述三维精密调整平台上。

2.根据权利要求1所述的偏振辐射标定系统，其特征在于，还包括：

计算机，所述计算机用于通过电机控制所述精密转台和所述三维精密调整平台，以调节入射所述通道型偏振光谱成像仪的光束，还用于对所述通道型偏振光谱成像仪进行可视化操作以及用于数据处理。

3.根据权利要求1所述的偏振辐射标定系统，其特征在于，所述辅助波晶片、所述第一多级波片和所述第二多级波片均为石英晶体。

4.根据权利要求1所述的偏振辐射标定系统，其特征在于，所述第一多级波片和所述第二多级波片的快轴方向之间的夹角为45°，所述第一多级波片的快轴与所述偏振片的通光轴平行。

5.根据权利要求1所述的偏振辐射标定系统，其特征在于，所述狭缝位于所述前置镜和所述成像镜的像面上。

6.一种通道型偏振光谱成像仪的偏振辐射标定方法，其特征在于，所述偏振辐射标定方法采用如权利要求1-5任一项所述的偏振辐射标定系统，对通道型偏振光谱成像仪进行偏振辐射标定，所述偏振辐射标定方法包括：

运用所述积分球、平行光管、起偏器和精密转台产生一束设定偏振态的光束，使起偏器的通光轴方位角不等于0°、90°、180°或270°，通过调节可调孔阑和三维精密调整平台使光束通过辅助波晶片后在通道型偏振光谱成像仪的中心孔径处沿中心视场入射，以标定第一多级波片、第二多级波片和偏振片的方位角误差。

7.根据权利要求6所述的偏振辐射标定方法，其特征在于，还包括：

撤去所述偏振辐射标定系统中的辅助波晶片，运用积分球、平行光管、起偏器和精密转台产生一束0°的线偏振光，通过调节可调孔阑和三维精密调整平台使光束在通道型偏振光谱成像仪的中心孔径处沿中心视场入射，以标定第二多级波片在中心视场的相位因子，并将标定结果作为第二多级波片在全视场下的相位因子。

8.根据权利要求7所述的偏振辐射标定方法，其特征在于，还包括：

运用积分球作为光源，撤去所述偏振辐射标定系统中的平行光管、起偏器、可调孔阑和精密转台，通过调节三维精密调整平台使光均匀充满通道型偏振光谱成像仪的全视场，并使用第一参考光谱辐亮度计实时测取积分球出光口处的光谱强度，用于标定系统的偏振辐射传递系数和前置镜的二向衰减。

9.根据权利要求7所述的偏振辐射标定方法，其特征在于，还包括：

运用积分球、平行光管、起偏器和精密转台产生一束45°的线偏振光，通过调节可调孔阑和三维精密调整平台使光束在通道型偏振光谱成像仪的中心孔径处沿中心视场入射，使用第二参考光谱辐亮度计实时测取经过可调孔阑后的光谱强度，以标定第一多级波片在中心视场的相位因子；通过精密转台调整起偏器的通光轴方向，产生一束0°的线偏振光，调节三维精密调整平台使光束沿通道型偏振光谱成像仪的不同视场入射，分别标定在不同视场下第一多级波片相对于中心视场的附加相位因子，进一步求得第一多级波片在全视场下的相位因子。

10.根据权利要求7所述的偏振辐射标定方法，其特征在于，还包括：

运用积分球、平行光管、起偏器和精密转台产生一束45°的线偏振光，通过调节三维精密调整平台使光束沿通道型偏振光谱成像仪的不同视场入射，分别标定不同视场下前置镜的相位延迟量。