[发明专利]记录介质装订装置有效
申请号: | 201710905548.4 | 申请日: | 2017-09-29 |
公开(公告)号: | CN108621627B | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 粟野宏明;牧田拓也;原田胜巳;堤康次郎;汤川俊康;荻野孝 | 申请(专利权)人: | 富士胶片商业创新有限公司 |
主分类号: | B42B5/00 | 分类号: | B42B5/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 王小东 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 记录 介质 装订 装置 | ||
1.一种记录介质装订装置,该记录介质装订装置包括:
第一齿列,该第一齿列包括在齿布置方向上布置的多个齿;和
第二齿列,该第二齿列包括在所述齿布置方向上布置的多个齿,该第二齿列将与所述第一齿列接合,并且与所述第一齿列相配合以夹压记录介质束,从而装订记录介质,
其中,所述第一齿列和所述第二齿列包括至少一个第一区域和至少一个第二区域,所述至少一个第一区域对应于具有小厚度的记录介质束,该至少一个第二区域在所述齿布置方向上与所述至少一个第一区域相邻地布置并且对应于具有大厚度的记录介质束,
其中,当所述第一齿列和所述第二齿列彼此接合时,所述第一齿列中包括的所述多个齿和所述第二齿列中包括的所述多个齿在所述至少一个第一区域中在齿高方向上彼此重叠第一接合重叠量,而在所述至少一个第二区域中彼此重叠第二接合重叠量;
其中,所述第二接合重叠量大于所述第一接合重叠量;
其中,所述至少一个第一区域包括两个第一区域;
其中,在所述齿布置方向上具有一侧和另一侧的所述至少一个第二区域位于所述齿布置方向上的中央,并且所述两个第一区域在所述齿布置方向上相邻于所述至少一个第二区域的所述一侧和所述另一侧;并且
其中,所述第一齿列和所述第二齿列设有低齿,限定所述齿布置方向上的过渡区域作为所述至少一个第一区域和所述至少一个第二区域之间的边界,并且在所述过渡区域中,接合重叠量是所述第一接合重叠量和所述第二接合重叠量之间的中间值。
2.根据权利要求1所述的记录介质装订装置,其中,在所述第一齿列和所述第二齿列中的每个齿列中,在所述多个齿当中,所述两个第一区域中包括的齿数小于所述至少一个第二区域中包括的齿数。
3.根据权利要求1所述的记录介质装订装置,其中,在所述第一齿列和所述第二齿列中的每个齿列中,在所述多个齿当中,所述两个第一区域中包括的彼此连续的齿的齿数小于所述至少一个第二区域中包括的彼此连续的齿的齿数。
4.一种记录介质装订装置,该记录介质装订装置包括:
第一齿列,该第一齿列包括在齿布置方向上布置的多个齿;和
第二齿列,该第二齿列包括在所述齿布置方向上布置的多个齿,该第二齿列将与所述第一齿列接合,并且与所述第一齿列相配合以夹压记录介质束,从而装订记录介质,
其中,所述第一齿列和所述第二齿列中的至少一个齿列包括由所述多个齿当中的具有第一齿高的齿形成并且对应于具有小厚度的记录介质束的至少一个低齿区域和由所述多个齿当中的具有第二齿高的齿形成并且对应于具有大厚度的记录介质束的至少一个高齿区域;
其中,所述第二齿高大于所述第一齿高;
其中,所述至少一个低齿区域包括两个低齿区域;
其中,在所述齿布置方向上具有一侧和另一侧的所述至少一个高齿区域位于所述齿布置方向上的中央,并且所述两个低齿区域在所述齿布置方向上相邻于所述至少一个高齿区域的所述一侧和所述另一侧;并且
其中,限定所述齿布置方向上的过渡区域作为所述至少一个低齿区域和所述至少一个高齿区域之间的边界,并且在所述过渡区域中,接合重叠量是在所述至少一个低齿区域中的第一接合重叠量和所述至少一个高齿区域中的第二接合重叠量之间的中间值。
5.根据权利要求4所述的记录介质装订装置,其中,在所述第一齿列和所述第二齿列中的一者或两者中,在所述齿当中,所述两个低齿区域中包括的齿数小于所述至少一个高齿区域中包括的齿数。
6.根据权利要求4所述的记录介质装订装置,其中,在所述第一齿列和所述第二齿列中的一者或两者中,在所述齿当中,所述两个低齿区域中包括的彼此连续的齿的齿数小于所述至少一个高齿区域中包括的彼此连续的齿的齿数。
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