[发明专利]存储服务器及其固态硬盘寿命监控方法在审

专利信息
申请号: 201710911732.X 申请日: 2017-09-29
公开(公告)号: CN109582527A 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: 吴奕达 申请(专利权)人: 群晖科技股份有限公司
主分类号: G06F11/30 分类号: G06F11/30;G06F3/06
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 中国台湾台北市大*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 固态硬盘 剩余寿命 寿命监控 时点 存储服务器 数据写入量 起始时点 撷取 写入 监控
【说明书】:

一种存储服务器及其固态硬盘寿命监控方法。固态硬盘寿命监控方法适用于包含多个固态硬盘的存储服务器,包含下列步骤:撷取各固态硬盘在起始时点以及结束时点之间的剩余寿命读数差值;在起始时点以及结束时点之间累计各固态硬盘的数据写入量;根据剩余寿命读数差值以及数据写入量之间的比值决定各固态硬盘的固态硬盘忍耐力参数;以及撷取各固态硬盘在结束时点的剩余寿命读数,以根据剩余寿命读数以及固态硬盘忍耐力参数之间的比值决定各固态硬盘在结束时点的剩余写入量。本揭示文件可通过可使用单一的固态硬盘寿命监控方法,达到监控不同种类及不同规格的固态硬盘的寿命的功效。

技术领域

本揭示文件涉及一种硬盘技术,尤其涉及一种存储服务器及其固态硬盘寿命监控方法。

背景技术

固态硬盘是一种以记忆体作为其存储器件的计算机存储装置,其中记忆体是使用与非门快闪记忆体(NAND Flash)技术为主。与非门快闪记忆体利用浮栅(Floating Gate)存储电子数据,也就是电子移入或移出浮栅时可分别视为“0”与“1”两种不同的存储状态。而要将电子存放入浮栅需调整控制栅(Word Line Control Gate)的电压,让部分电子以量子穿隧效应跃进浮栅。然而,将电子灌入浮栅的过程中会逐渐的对浮栅周围的绝缘层(例如复晶硅层间介电层(inter-poly dielectric)或穿隧氧化层(tunnel oxide))造成物理上的损耗。当绝缘层的损耗到达一定程度后,所述存储器件将无法正常运作。也就是说,对于固态硬盘而言,随着操作次数的累积,将会有越来越多的存储区块变成无法擦写的状态。因此,固态硬盘的寿命基本上会与与非门快闪记忆体的可擦写次数呈现正相关。

然而,在计算一个固态硬盘的寿命时,除了参考材料本身的可擦写次数外,还有许多额外的参数(例如制程因素、使用者使用习惯等等)也要纳入考量。目前各家厂商都会针对其出产的硬盘导入自我监测、分析及报告技术(Self-Monitoring Analysis andReporting Technology;S.M.A.R.T.)信息。透过S.M.A.R.T.信息,使用者可以得知固态硬盘的健康状态,再由健康状态去评估固态硬盘的寿命。

此种方式针对同一厂牌,同一型号的固态硬盘评估剩余寿命时,也许不失为一个较为客观的评估方式,其可针对同一厂牌且同一型号的多个不同硬盘做剩余寿命的排序,使得使用者提早替换掉即将损坏的硬盘,以免数据遗失。然而,如果存储系统中存在多个不同厂牌的固态硬盘,则各厂牌的S.M.A.R.T.信息所得到的健康状态并不会是一个客观且可相互比较的信息。如前所述,评估固态硬盘寿命需参考许多额外的因素,不同厂牌S.M.A.R.T.技术所使用的演算法可能不同,所参考的使用者使用条件可能不同,因此即使经过同样的擦写次数,也有可能得到不同的健康状态。

上述情况在一个全固态硬盘的存储系统中,将尤其限制使用者选择固态硬盘的弹性。更进一步而言,若开放使用者选用不同厂牌、不同型号的固态硬盘组成全固态存储系统,则不同厂牌或不同型号的S.M.A.R.T.信息所得到的各个固态硬盘的健康状态信息并不是一个客观且可以互相比较的标准,因此无法直接用来排序所有固态硬盘的剩余寿命。也就是说,当使用者混用不同型号的固态硬盘时,将难以得知各个固态硬盘的剩余寿命,如此可能导致剩余寿命较长的固态硬盘被优先汰换,增加企业维护全固态硬盘的存储系统的成本。

发明内容

本揭示文件的目的在于提供单一的固态硬盘寿命监控方法,达到监控不同种类及不同规格的固态硬盘的寿命的功效。

因此,本揭示文件的一目的在于提出一种固态硬盘寿命监控方法,适用于包含多个固态硬盘的存储服务器,其特征在于,监控方法包含:撷取各固态硬盘在起始时点以及结束时点之间的剩余寿命读数差值;在起始时点以及结束时点之间累计各固态硬盘的数据写入量;根据剩余寿命读数差值以及数据写入量之间的比值决定各固态硬盘的固态硬盘忍耐力参数;以及撷取各固态硬盘在结束时点的剩余寿命读数,以根据剩余寿命读数以及固态硬盘忍耐力参数之间的比值决定各固态硬盘在结束时点的剩余写入量。

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