[发明专利]成像装置、系统和移动成像体有效
申请号: | 201710912843.2 | 申请日: | 2017-09-30 |
公开(公告)号: | CN107888852B | 公开(公告)日: | 2021-01-05 |
发明(设计)人: | 识名纪之;月田健太郎;岩仓靖;和田洋一 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | H04N5/361 | 分类号: | H04N5/361;H04N5/369 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 周博俊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 成像 装置 系统 移动 | ||
一种成像装置、系统和移动成像体。该成像装置包括:布置成矩阵的多个像素;和信号处理装置。矩阵的第一行和第二行均包括光接收像素和参考像素,光接收像素均接收入射光并输出基于入射光的光信号,并且每个参考像素输出用于形成地址信号的像素信号。处理装置提供第一地址信号和第二地址信号,其中:第一地址信号指示第一行的位置,并包括基于来自第一行的像素信号的信号值;并且第二地址信号指示第二行的位置,并且包括基于来自第二行的像素信号的信号值;并且第一地址信号的信号值与第二地址信号的信号值不同。
技术领域
本发明涉及成像装置、成像系统、移动体和操作这种系统的方法。
背景技术
在日本专利申请公开第2009-118427中讨论的成像装置包括有效像素区域和非有效像素区域。有效像素区域被布置成接收外部光并用于捕获图像。布置在有效像素区域中的像素各包括通过光电转换产生电信号的光电二极管。另一方面,非有效像素区域的整个表面被遮光膜覆盖。非有效像素区域包括参考区域和故障检测图案区域。布置在参考区域中的像素产生要用作图像信号电平的参考的信号。各配备有光电二极管的像素(具有光电二极管(PD)的像素)和各未配备光电二极管的像素(没有PD的像素)都布置在故障检测图案区域中。从故障检测图案区域获取根据其中布置具有PD的这些像素和没有PD的像素的图案的信号。基于这些信号确定故障。
发明内容
作为根据本发明的一方面的示例性实施例的成像装置包括布置成至少包括第一行和第二行的矩阵的多个像素,其中,第一行和第二行中的每一行都包含光接收像素和参考像素,光接收像素被配置为接收入射光并输出基于入射光的像素信号,参考像素被配置为输出用于形成指示参考像素所属的行的位置的地址信号的像素信号,并且其中从第一行输出的地址信号的信号值和从第二行输出的地址信号的信号值彼此不同。
作为根据本发明的另一方面的示例性实施例的成像装置包括布置成至少包括第一列和第二列的矩阵的多个像素,其中,第一列和第二列中的每一列都包含光接收像素和参考像素,光接收像素被配置为接收入射光并输出基于入射光的像素信号,参考像素被配置为输出用于形成指示参考像素所属于的列的位置的地址信号的像素信号,并且其中从第一列输出的地址信号的信号值和从第二列输出的地址信号的信号值彼此不同。
作为根据本发明的又一方面的示例性实施例的成像装置包括多个像素和输出控制电路,所述多个像素至少包括:第一光接收像素和第二光接收像素,每个光接收像素被配置为接收入射光并输出基于入射光的像素信号;第一参考像素,被布置成与来自第一光接收像素的像素信号并行地提供像素信号;以及第二参考像素,被布置成与来自第二光接收像素的像素信号并行地提供像素信号,输出控制电路被配置为控制来自第一参考像素和第二参考像素中的每一个的像素信号的电平,使得由第一参考像素提供的像素信号和由第二参考像素提供的像素信号具有不同的电平。
作为根据本发明的再一方面的示例性实施例的成像系统包括信号处理单元,该信号处理单元被配置为处理从成像装置的光接收像素输出的像素信号,并且提供基于像素信号的图像信号,其中信号处理单元接收从成像装置输出的多个地址信号,所述多个地址信号具有不同的信号值,并且其中信号处理单元基于所述多个地址信号来确定光接收像素的像素信号是否从成像装置正常地输出。
作为根据本发明的再一方面的示例性实施例的移动体包括:根据前述的成像系统;以及控制单元,被配置为基于图像信号来控制移动体。
根据本发明的再一方面的示例性实施例涉及用于确定成像装置中的异常的方法,其中,成像装置包括像素矩阵,并且矩阵的行包括多个参考像素,每个参考像素都被布置为提供不同电平的像素信号,所述方法包括:设置不同的参考像素组以提供相同的像素信号组;产生包括至少三个子信号的地址信号,其中,每个子信号具有基于来自不同的参考像素组的像素信号组的信号值;比较所述三个子信号中的信号值;以及基于子信号中与其他子信号不同的一个子信号来确定在矩阵的行中是否存在异常参考像素。
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