[发明专利]用于校准制造三维物体的装置的方法和实施该方法的装置

权利要求书

1.一种用于校准通过在工作平面(7)中的构建区域(8)内逐层施加并选择性地固化构建材料(15)来增材地制造三维物体(2)的制造装置(1)的校准方法，

其中，制造装置(1)包括至少两个扫掠单元(23a，23b)，每个扫掠单元能够将光束(22a，22b)引导到位于工作平面(7)中的不同目标点，所述目标点位于被分配给相应的扫掠单元(23a，23b)的扫掠区域(18a，18b)内，其中，所述至少两个扫掠单元(23a，23b)的扫掠区域(18a，18b)在重叠区域(19)中重叠，

其中，所述至少两个扫掠单元中的至少第一扫掠单元(23a)被分配有第一监视单元(30a)，第一监视单元的监视区域(Ua)延伸到第一扫掠单元(23a)的目标点及其邻近，其中，根据目标点的位置的改变来执行监视区域(Ua)的位置的改变，

其中，校准方法包括以下步骤：

将第一监视单元(30a)的监视区域(Ua)引导到重叠区域(19)中的区域，而不从第一扫掠单元(23a)发出光束(22a)，

利用经由所述至少两个扫掠单元中的第二扫掠单元(23b)发出的光束(22b)照射第一监视单元(30a)的监视区域(Ua)的至少一部分，和

评估第一监视单元(30a)的输出信号。

2.根据权利要求1所述的校准方法，其中，所述构建材料(15)为粉末。

3.根据权利要求1或2所述的校准方法，其中，所述目标点位于构建区域(8)中。

4.根据权利要求1或2所述的校准方法，其中，第二扫掠单元(23b)被分配有第二监视单元(30b)，第二监视单元的监视区域延伸到第二扫掠单元(23b)的目标点及其邻近，其中，根据第二扫掠单元(23b)的目标点的位置的改变来执行第二监视单元(30b)的监视区域的位置的改变，并且

校准方法包括评估第二监视单元(30b)的输出信号的步骤。

5.根据权利要求1或2所述的校准方法，其中，第二扫掠单元(23b)被分配有第二监视单元(30b)，第二监视单元的监视区域延伸到第二扫掠单元(23b)的目标点及其邻近，其中，根据第二扫掠单元(23b)的目标点的位置的改变来执行第二监视单元(30b)的监视区域的位置的改变，并且

校准方法包括以下步骤：

将第二监视单元(30b)的监视区域引导到重叠区域(19)内的区域，而不从第二扫掠单元(23b)发出光束(22b)，

利用经由第一扫掠单元(23a)发出的光束(22a)照射第二监视单元(30b)的监视区域的至少一部分，和

评估第二监视单元(30b)的输出信号。

6.根据权利要求1或2所述的校准方法，其中，第一监视单元(30a)的监视区域(Ua)被限制到第一扫掠单元(23a)的目标点及其邻近，和/或

第二监视单元(30b)的监视区域(Ub)被限制到第二扫掠单元(23b)的目标点及其邻近。

7.根据权利要求1或2所述的校准方法，其中，扫掠单元(23a，23b)的光束(22a，22b)是适于固化构建材料的辐射的光束，和/或

扫掠单元(23a，23b)的光束(22a，22b)是其能量不足以固化构建材料(15)的目标光束和/或激光光束。

8.根据权利要求7所述的校准方法，其中，适于固化构建材料的所述辐射是激光辐射。

9.根据权利要求1或2所述的校准方法，其中，被分配给扫掠单元(23a，23b)的监视单元(30a，30b)的监视区域(Ua，Ub)被不同的扫掠单元(23a，23b)的光束(22a，22b)以扫掠的形式照射。

10.根据权利要求9所述的校准方法，其中，所述扫掠根据预定图案实施。

11.根据权利要求1或2所述的校准方法，其中，输出信号的评估包括确定输出信号的极值和/或将输出信号的信号曲线与预定比较图案进行比较。