[发明专利]一种利用晶体光阀传感器制造的光学电流测量装置

权利要求书

1.一种利用晶体光阀传感器制造的光学电流测量装置，其特征在于，包括光学起偏调制和解调、光电解调系统、动态校正系统、匀磁系统、磁屏蔽系统、传感头系统和光纤分支器(5)；

所述光学起偏调制和解调单元包括光学调制器、起偏器和解调器组成；

所述光电解调系统包括光电解调单元(6)和光源(8)，所述光电解调单元(6)通过光缆与(7)所述光纤分支器(5)上行接口连接，所述光源(8)发出恒定的第一光信号，第二光信号和第三光信号，所述第一光信号和第二光信号通过所述光纤分支器(7)传输到所述晶体光阀传感器(1)，所述第三光信号通过所述光纤分支器(5)传输到所述动态校正系统，所述晶体光阀传感器(1)所感应的被测电流的磁场信号通过光纤分支器(5)传回所述光电解调单元(6)，所述光电解调单元(6)将反馈回的光信号转换成电信号，并进行解调，计算出被测电流；

所述动态校正系统通过光纤与所述光纤分支器(5)的下行接口连接，所述动态校正系统用于将光信号转化为电流，进而在晶体光阀传感器(1)外侧形成参考磁场，所述晶体光阀传感器(1)同时检测到参考磁场和所述匀磁系统产生的被测磁场；

所述传感头系统包括一个或多个晶体光阀磁场传感器(1)和导电杆(3)，所述晶体光阀传感器(1)固定于所述导电杆(3)周围，所述晶体光阀传感器(1)的两端通过光纤(7)与所述光纤分支器(5)下行光接口连接；

所述匀磁系统包括匀磁环(2)，所述匀磁环(2)固定在所述晶体光阀传感器(1)上，所述匀磁环(2)提供稳定的被测磁场环境。

2.根据权利要求1所述的一种利用晶体光阀传感器制造的光学电流测量装置，其特征在于，所述动态校正系统包括光学标尺，所述光学标尺与光纤分支器下行接口连。

3.根据权利要求1所述的一种利用晶体光阀传感器制造的光学电流测量装置，其特征在于，所述第一光信号的波长为1400-1600nm；所述第二光信号的波长为1350-1550nm；所述第三光信号的波长为850-1050nm。

4.根据权利要求1或5所述的一种利用晶体光阀传感器制造的光学电流测量装置，其特征在于，所述第一光信号和所述第二光信号组成差分双光路。

5.根据权利要求1或3所述的一种利用晶体光阀传感器制造的光学电流测量装置，其特征在于，所述所述光源是激光发射器。