[发明专利]开关

权利要求书

1.一种用于保护电路的开关，

-具有释放装置(AE)，用于中断电路，

-具有总和电流互感器(ZCT)，电路的导线(N,L)被引导通过总和电流互感器(ZCT)，以确定差电流，总和电流互感器(ZCT)具有第一绕组(NZ)，在第一绕组上能够量取差电流，

-具有电流传感器(Shunt)，用于确定电路的电流值，

-具有电压传感器，用于确定电路的电压值，

-具有测试按钮(T)，

-具有故障电弧仿真单元(ATSG)，其具有至少一个输入端(ETA)和至少两个输出端，

-具有微处理器(MCU)，其与测试按钮(T)、电流传感器(Shunt)、电压传感器、总和电流互感器(ZCT)的第一绕组(NZ)、故障电弧仿真单元(ATSG)的输入端和释放装置(AE)连接，并且被构造为，在超过特定的电流极限值或者差电流极限值时或者在存在故障电弧时，通过释放装置(AE)中断电路，

其中，总和电流互感器(ZCT)具有第二绕组(NT)，其直接或者经由第一电阻(RT)与微处理器(MCU)连接，

其中，通过测试信号，能够代替电流或/和电压值，将故障电弧仿真单元(ATSG)的输出端的信号馈送到微处理器(MCU)。

2.根据权利要求1所述的开关，

其特征在于，

微处理器(MCU)被构造为，在操作测试按钮(T)时或者之后，微处理器(MCU)改变为测试模式，

从微处理器(MCU)向故障电弧仿真单元(ATSG)输出测试信号，

故障电弧仿真单元(ATSG)在其输出端处分别输出故障电弧仿真信号并持续第一持续时间，并且代替电流值或/和电压值，将故障电弧仿真信号馈送到微处理器(MCU)，并且微处理器(MCU)检查故障电弧的存在。

3.根据权利要求2所述的开关，

其特征在于，

微处理器(MCU)被构造为，在操作测试按钮(T)时或者之后，微处理器(MCU)改变为测试模式，

微处理器(MCU)直接或者经由第一电阻(RT)向第二绕组输出测试电流并持续第二持续时间，并且微处理器(MCU)检查超过差电流极限值的存在。

4.根据权利要求3所述的开关，

其特征在于，

微处理器(MCU)被构造为，依次执行根据权利要求2的故障电弧检查和根据权利要求3的差电流检查，使得在两个检查肯定地结束之后，进行开关释放，否则不进行开关释放。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的开关，

其特征在于，

在电流传感器(Shunt)和微处理器(MCU)之间设置第一信号处理单元(LFCC)。

6.根据权利要求5所述的开关，

其特征在于，

在电压传感器和微处理器(MCU)之间设置第二信号处理单元(HFNC)。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的开关，

其特征在于，

在总和电流互感器(ZCT)的第一绕组(NZ)和微处理器(MCU)之间设置第三信号处理单元(DCC)。

8.根据权利要求6所述的开关，

其特征在于，

第一切换单元(SLF)在电流传感器(Shunt)之后，第一切换单元(SLF)另一方面与故障电弧仿真单元(ATSG)的一个输出端连接。

9.根据权利要求8所述的开关，

其特征在于，

第二切换单元(SHF)在电压传感器之后，第二切换单元(SHF)另一方面与故障电弧仿真单元(ATSG)的一个输出端连接。

10.根据权利要求9所述的开关，

其特征在于，

第一切换单元(SLF)、第二切换单元(SHF)、故障电弧仿真单元(ATSG)、第二信号处理单元(HFNC)和第一信号处理单(LFCC)在专用电路(ASIC)中实现。