[发明专利]一种基于亚像素的高精度矩形磁材尺寸检测方法有效

专利信息
申请号: 201710918394.2 申请日: 2017-09-30
公开(公告)号: CN107767371B 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 张静;邓荣钰;陈祥;刘三亚;刘笑寒;刘城作;刘霖;刘娟秀;倪光明;杜晓辉;刘永 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/187;G01B11/02
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 甘茂
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 像素 高精度 矩形 尺寸 检测 方法
【说明书】:

发明公开了一种基于亚像素的高精度矩形材料尺寸检测方法,属于数字图像处理领域,涉及一种矩形材料的数字图像中尺寸检测方法,特别是针对一种基于亚像素的高精度矩形磁材尺寸检测方法。采用对获取的矩形材料的图像进行处理,首先获取矩形材料的连通域,对矩形连通域的各边拟合一个旋转矩形,在旋转矩形的区域内计算边界像素,根据边界像素计算出矩形材料各边的边界,最后根据边界计算出矩形材料的长和宽;因而本发明具有计算精度高的特点。

技术领域

本发明属于数字图像处理领域,涉及一种矩形材料的数字图像中尺寸检测方法,特别是针对一种基于亚像素的高精度矩形磁材尺寸检测方法。

技术背景

现代磁性材料广泛应用于仪表、电工、软开关、自动控制以及航天仪器的设计制造中。随着工业的发展对磁性材料的尺寸要求越来越高,准确的测量磁性材料的尺寸对精密电子制造,精密机械制造起着重要的作用。目前国内厂商对磁性材料的尺寸检测都只是像素级别的。像素级别的尺寸检测已经无法满足高精度工业制造领域的需求,限制了高精度工业的发展。

由于磁性材料的尺寸比较小,采用像素级别检测会造成误差大,不够精确等方面的影响,从而导致达不到高精度工业生产的要求。

发明内容

针对像素级别的磁性材料的检测误差大,精度低等缺点,本发明提供了一种亚像素级别的磁性材料尺寸检测方法,大大的提高了矩形磁材尺寸的检测精度。

本方案的技术方案为:一种基于亚像素的高精度矩形材料尺寸检测方法,该方法包括:

步骤1:获取矩形材料的清晰图像,如图1;

步骤2:对步骤1中的图像进行图像预处理,得到矩形材料所在的ROI区域、矩形区域位置信息、矩形材料的摆放角度;

步骤3:对步骤2中得到的图像进行中值滤波,去除图像中的噪声;

步骤4:利用步骤2得到的位置信息和摆放角度,矩形材料的每条边定义一个旋转矩形,这些旋转矩形宽度为[20,40],长度为磁材对应边的[70%,90%],旋转矩形中心为对应矩形材料边的中点,旋转矩形方向与对应矩形材料边的方向一致;如图2所示

步骤5:求出步骤4中得到的4个旋转矩形的一个外接矩形区域,并截取外接矩形区域的图像,利用亚像素检测方法,求出外接矩形区域中的分界点;以上边的矩形为例,截取示例图如图3所示;亚像素检测结果如图4所示图5为局部放大后的图

步骤6:对在步骤5中得到的分界点进行最小二乘法直线拟合,得到四条边的拟合直线;

步骤7:求出四条拟合直线的四个交点。示意图如图6所示。

步骤8:根据步骤7得到的4个交点,构建矩形,该矩形相对边的平均值认定为矩形材料的长和宽。

进一步的,所述矩形材料为磁性的矩形材料。

进一步的,所述步骤2中,具体方法为:

步骤2-1:以固定阈值Q对步骤1中的图像进行反向二值化,其中25≤Q≤35,得到二值图,如图7所示;

步骤2-2:对步骤2-1中得到的图像进行连通域标记,计算每个连通域的面积,只保留面积最大的连通域,将其他连通区域的像素值全部置为零,计算最大连通域的位置信息,根据此位置信息,从步骤1所得图像中截取包括完整最大连通域图像的一张小图,得到ROI区域;如图8所示;

步骤2-3:对步骤2-2所得小图中最大连通域求其最小外接矩形,并由此求出矩形材料的位置信息和摆放角度。

进一步的,所述步骤3中,所用的滤波模板大小为3*3。

进一步的,所述步骤5中,对4个旋转矩形区域进行亚像素检测,4个区域的检测方法相同,其具体步骤为:

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