[发明专利]准直器、成像设备、焦点位置跟踪方法及校正方法有效
申请号: | 201710927155.3 | 申请日: | 2017-09-29 |
公开(公告)号: | CN107582089B | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 李兵 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;A61B6/06;G01N23/046 |
代理公司: | 成都七星天知识产权代理有限公司 51253 | 代理人: | 杨永梅 |
地址: | 201807 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 准直器 成像 设备 焦点 位置 跟踪 方法 校正 | ||
1.一种准直器,所述准直器限定有开口,其特征在于,所述准直器在第一方向具有宽度,在第二方向具有长度,所述开口在所述准直器的宽度方向具有开口宽度,所述准直器沿所述第二方向的至少一个端部对应的开口宽度小于中部对应的开口宽度;
所述准直器沿所述第二方向的至少一个端部形成有突出部分,所述突出部分向所述开口内延伸,在所述第一方向向内延伸的所述突出部分之间沿所述第二方向平行延伸形成间隙;所述突出部分用于遮挡位于探测器第二方向边缘的部分探测单元。
2.如权利要求1所述的准直器,其特征在于,所述准直器为切片,所述切片沿所述第二方向的至少一个端部形成有突出部分,所述突出部分向所述开口内延伸。
3.如权利要求1所述的准直器,其特征在于,所述准直器为防散射栅格,所述防散射栅格具有多个开口,所述开口用于和探测器的探测单元对应设置。
4.如权利要求3所述的准直器,其特征在于,所述防散射栅格包括本体和多个突出部分,所述多个突出部分位于所述本体沿所述第一方向延伸的边缘,所述多个突出部分沿所述第一方向排列,每个所述突出部分用于部分遮挡对应的探测单元。
5.一种成像设备,包括:
X射线球管;
准直器;以及
探测器;
其特征在于,所述准直器限定有开口,所述准直器在第一方向具有宽度,在第二方向具有长度,所述开口在所述准直器的宽度方向具有开口宽度,所述准直器沿所述第二方向的至少一个端部对应的开口宽度小于中部对应的开口宽度;
所述准直器沿所述第二方向的至少一个端部形成有突出部分,所述突出部分向所述开口内延伸,在所述第一方向向内延伸的所述突出部分之间沿所述第二方向平行延伸形成间隙;所述突出部分用于遮挡位于探测器第二方向边缘的部分探测单元。
6.一种对权利要求5所述的成像设备进行焦点位置跟踪的方法,其特征在于,所述方法包括:
获取边缘探测单元探测的第一射线强度分布,所述边缘探测单元为所述探测器沿所述第一方向排列的位于探测器边缘的探测单元且所述边缘探测单元沿所述第二方向的尺寸与所述突出部分沿所述第二方向的尺寸对应,所述第一射线强度分布对应所述X射线球管的第一焦点位置;
获取所述边缘探测单元探测的第二射线强度分布,所述第二射线强度分布对应所述X射线球管的第二焦点位置;以及
根据所述第一射线强度分布和所述第二射线强度分布确定第一焦点位置和第二焦点位置之间的移动量。
7.如权利要求6所述的进行焦点位置跟踪的方法,其特征在于,根据所述第一射线强度分布和所述第二射线强度分布确定第一焦点位置和第二焦点位置之间的移动量包括:
确定第一射线强度分布的边界所在的探测单元;
确定第二射线强度分布的边界所在的探测单元;以及
根据第二射线强度分布的边界所在的探测单元和第一射线强度分布的边界所在的探测单元之间的距离确定所述第一焦点位置和所述第二焦点位置之间的移动量。
8.一种对权利要求5所述的成像设备进行焦点位置跟踪的方法,其特征在于,所述方法包括:
获取边缘探测单元探测的射线强度分布,所述边缘探测单元为所述探测器沿所述第一方向排列的位于探测器边缘的探测单元且所述边缘探测单元沿所述第二方向的尺寸与所述突出部分沿所述第二方向的尺寸对应,所述射线强度分布对应所述X射线球管的焦点位置;
确定所述射线强度分布的第一边界强度和第二边界强度;
计算所述第一边界强度和所述第二边界强度的关系;以及
查询映射表,根据所述第一边界强度与所述第二边界强度的关系确定X射线球管的焦点位置,所述映射表包括不同焦点位置与第一边界强度和第二边界强度的关系之间的对应关系。
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