[发明专利]坏簇检测方法及装置

说明书

本发明实施例提供了一种坏簇检测方法及装置，本发明实施例按照预定顺序，针对每个目标坏点检测与其接触的右侧和下侧的像元中是否存在坏点，如果存在坏点，则将检测出来的所有坏点作为一个级别的待检测目标坏点，并对每个待检测目标坏点检测与其接触的右侧、下侧及左侧的像元中是否存在坏点，如果存在坏点，将检测出来的坏点作为另一个级别的待检测目标坏点，并对另一级别的每个待检测目标坏点执行与上一级别的待检测目标坏点相同的检测步骤，直到某一级别的待检测目标坏点的检测中没出现新坏点，最后根据检测得到坏点总数判断当前目标坏点的坏簇是否形成。此方案只需一次扫描就可检测出所有坏点，处理的数据量大幅度减小，有效提高了检测效率。

技术领域

本发明实施例涉及技术领域，并且更具体地，涉及一种坏簇检测方法及装置。

背景技术

图像传感器是数字摄像头的重要组成部分。图像传感器的芯片像元阵列上排列有大量像元，其是图像传感器对地面景物进行扫描采样的最小单元。像元的实际物理尺寸通常包括14um,10um,9um,7um,6.45um,3.75um等。可以将像元看成具有一定尺寸的矩形。像元在一定的光照强度和曝光时间下进行光电转化，从而形成数字化图像。

由于制造工艺、运输或储存等方面存在不足，使得图像传感器中存在一少部分不能正常感光的像元，此部分不能正常感光的像元称为坏点，多个连续坏点形成坏簇，连续的坏点的数量对应该坏簇的大小。坏簇数量以及坏簇大小会在很大程度上影响图像传感器形成的图像的质量，因此，坏簇是衡量图像传感器质量的重要参数。

现有技术中对于坏簇的检测和统计是基于连通域的两次或多次扫描完成的，重复扫描造成了运算量的大幅度提高，同时降低了检测效率。

发明内容

本发明实施例提供一种坏簇检测方法及装置，其能够降低坏簇检测的运算量，提高坏簇检测的效率。

第一方面，提供了一种坏簇检测方法，所述方法包括：

按照预定顺序对每个目标坏点执行以下步骤：

检测与当前目标坏点接触的第一类像元中是否有坏点；若有坏点，则将检测到的坏点作为同一级别的待检测目标坏点；若没有坏点，则当前目标坏点不构成坏簇；其中，所述第一类像元为纵坐标小于或等于当前目标坏点的纵坐标的像元，并且在所述第一类像元的纵坐标等于当前目标坏点的纵坐标时，所述第一类像元的横坐标大于当前目标坏点的横坐标；

对于同一级别的每个所述待检目标坏点，检测与该待检测目标坏点接触的第二类像元中是否有坏点，若有坏点，则将检测到的坏点作为另外一个级别的待检测目标坏点，并在当前级别的所有待检测坏点检测完毕后，针对另外一个级别的所述待检测目标坏点再次执行当前步骤；若没有坏点，则统计当前坏点总数，并根据所述坏点总数判定当前目标坏点的坏簇是否形成；其中所述第二类像元为除当前目标坏点以及已经检测过的像元外的，纵坐标小于或等于当前目标坏点的纵坐标的像元，并且在所述第二类像元的纵坐标等于当前目标坏点的纵坐标时，所述待检测目标像素的横坐标大于当前目标坏点的横坐标。

结合第一方面，在第一种可能的实现方式中，所述方法在所述并在当前级别的所有待检测坏点检测完毕后之后，并且在所述针对另外一个级别的所述待检测目标坏点再次执行当前步骤之前，还包括如下步骤：

对所述另外一个级别的所述待检测目标坏点中的每一个所述待检测坏点执行如下步骤：

统计所述当前步骤的执行次数，确定第一参考目标坏点、第二参考目标坏点以及第三参考目标坏点；其中所述第一参考目标坏点的纵坐标等于对应的目标坏点的纵坐标，横坐标等于对应的目标坏点的横坐标加预定数值；所述第二参考目标坏点的纵坐标等于对应的目标坏点的纵坐标减1，横坐标等于对应的目标坏点的横坐标减所述预定数值；所述第三参考目标坏点的横坐标等于对应的目标坏点的横坐标，纵坐标等于对应的目标坏点的纵坐标减所述预定数值；所述预定数值等于所述执行次数加1；