[发明专利]一种用于核电厂定期试验周期延长的论证方法

权利要求书

1.一种用于核电厂定期试验周期延长的论证方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、将核电厂中的安全相关设备分类为仪表校验类设备和非仪表校验类设备，并针对不同分类的安全相关设备的定期试验采用不同的论证方法，对非仪表校验类设备执行步骤S2，而对仪表校验类设备则执行步骤S3；

S2、针对非仪表校验类设备，引入风险指引型(Risk Informed)分析方法，评估和论证定期试验周期延长后导致的堆芯损坏概率增量，并将其与法规规定的允许增量准则进行比较，确定定期试验周期延长的可行性；然后执行步骤S4；

S3、针对仪表校验类设备，采用以数理统计为基础的漂移分析，定量计算周期延长后的漂移量，分析漂移量是否影响系统执行安全功能的能力，进行综合判断周期延长的可行性；然后执行步骤S4；

S4、对于非仪表校验类设备，若分析结果表明定期试验周期延长对整体风险水平(CDF和LERF)的影响在规定的风险接受范围之内，则判定定期试验周期延长可行，否则调整定期试验频率重新进行风险评估；

对于仪表校验类设备，若周期延长后的漂移量在保护设定限值范围内，则判定周期延长可行。

2.根据权利要求1所述的用于核电厂定期试验周期延长的论证方法，其特征在于，在步骤S4中，对于仪表校验类设备，若周期延长后的漂移量超出保护设定限值范围，则修改保护设定限值使其不被突破，同时修改相应的运行技术规范。

3.根据权利要求1所述的用于核电厂定期试验周期延长的论证方法，其特征在于，在步骤S2中，还包括以下子步骤：

S21、若非仪表校验类设备通过核电厂PSA模型模化，则进行风险定量化分析，执行步骤S22；若非仪表校验类设备无法通过核电厂PSA模型模化，则进行风险定性化分析，执行步骤S23；

S22、将受到定期试验周期延长的非仪表校验类设备根据PSA模型进行模化，并获得定期试验周期延长前后的整体风险水平(CDF和LERF)的变化情况；

S23、对非仪表校验类设备的本身结构以及所处系统进行分析。

4.根据权利要求3所述的用于核电厂定期试验周期延长的论证方法，其特征在于，步骤S22还包括以下子步骤：

S221、根据核电厂PSA模型，对受定期试验周期延长的非仪表校验类设备进行模化；

S222、分析定期试验周期延长对风险水平的增量；

S223、若评估定期试验周期延长后的风险增量属于接受范围，则判定接受定期试验周期延长，否则调整定期试验的频率并重新进行风险水平的作用评估。

5.根据权利要求4所述的用于核电厂定期试验周期延长的论证方法，其特征在于，在步骤S221中，对非仪表校验类设备进行PSA模型模化分为直接模化和未直接模化两种情况，在未直接模化的情况中，通过修改PSA模型或者间接模化的方式体现定期试验周期延长对该非仪表校验类设备的影响。

6.根据权利要求5所述的用于核电厂定期试验周期延长的论证方法，其特征在于，在步骤S222中，从始发事件影响、缓解功能影响以及组合影响三个方面分析和评估定期试验周期延长对风险水平的作用，并且对非仪表校验类设备的可靠性参数失效数据的假设执行敏感性分析，确保该假设连贯的合理性和保守性。

7.根据权利要求3所述的用于核电厂定期试验周期延长的论证方法，其特征在于，在步骤S23中，对非仪表校验类设备的本身结构以及所处系统进行分析后，若判定本身结构或所处系统与堆芯安全风险相关联，则执行设备级详细分析，该分析包括定期试验周期延长对PSA模型中所有风险贡献项的影响。

8.根据权利要求1所述的用于核电厂定期试验周期延长的论证方法，其特征在于，在步骤S3中，还包括以下子步骤：

S31、根据数理统计进行漂移分析，该漂移分析以仪表历史校验数据为基础；

S32、利用统计学方法定量计算周期延长后的漂移量，分析仪表校验或监督期间记录的AFAL数据；

S33、判定周期延长是否可行。

9.根据权利要求7所述的用于核电厂定期试验周期延长的论证方法，其特征在于，在步骤S33中，判定周期延长是否可行时包括以下因素：

a)通过AFAL校验数据，判定周期延长前的仪表漂移量是否超过保护设定限值；

b)判定周期延长导致的漂移量是否影响安全停堆；

c)判定保护设定限值和安全分析的条件和假设在定期试验程序的验收准则中是否得到体现；

d)建立定期试验程序，长期监视和评估周期延长对仪表漂移以及安全的影响。