[发明专利]一种望远镜光轴稳定性检测方法

说明书

本发明涉及一种标校望远镜光轴稳定性检测方法，调整两台自准直仪的光轴在同一直线上，将被测标校望远镜放置在多维可调平台上，调整平台使望远镜光轴与自准直仪的光轴在同一直线上，将一可调反射镜固定于被测望远镜目镜旁边，调整反射镜角度，使其与自准直仪光轴垂直，固定好可调装置，使其不再可动，将被测望远镜绕光轴水平翻转180°，通过检测被上述各光轴与可调反射镜(7)偏移的角度即为被测望远镜(5)的光轴在正倒镜状态下的变化量。本发明通过自准直仪检测标校望远镜在正镜和倒镜两种状态下的光轴变化量，能有效降低标校望远镜光轴在正倒镜时的误差，从而提高望远镜光轴稳定性检测方法。

技术领域

本发明属于光学技术领域，涉及一种望远镜光轴稳定性检测方法。

背景技术

标校望远镜主要用于无线电测控天线轴系误差的标定，在整个系统中起着重要的作用，其性能的好坏影响到测控设备测量精度。

标定轴系误差时，标校望远镜正镜(俯仰角E<90°)测量某一目标，录取方位角和俯仰角的测量值分别为A+、E+；然后，方位转动180°，俯仰转动180°－2E+，再用标校望远镜测量同一目标，录取方位角和俯仰角的测量值分别为A-、E-，称为倒镜。因此，标校望远镜光轴在正倒镜时的误差是影响望远镜性能的重要因素。

通过检索，未发现标校望远镜正倒镜下的光轴稳定性检测方法的相关文献。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对上述现有技术提供一种标校望远镜光轴稳定性检测方法，通过自准直仪检测标校望远镜在正镜和倒镜两种状态下的光轴变化量。

本发明解决上述问题所采用的技术方案为：一种标校望远镜光轴稳定性检测方法，调整两台自准直仪A和B的光轴在同一直线上，将被测标校望远镜放置在多维可调平台上，调整多维可调平台的姿态使被测标校望远镜光轴与自准直仪B的光轴在同一直线上，将一可调反射镜固定于被测望远镜的目镜旁边，调整可调反射镜的反射角度，使其与自准直仪B的光轴垂直，固定好可调反射镜的位置，使其不再可动，将被测望远镜绕其光轴水平翻转180°，通过检测上述各光轴与可调反射镜偏移的角度即为被测望远镜的光轴在正倒镜状态下的变化量。

优选地，调整多维可调平台使被测望远镜的光轴与自准直仪B的光轴在同一直线上，通过自准直仪B检测自准直仪B的十字线经可调反射镜反射后在自准直仪B分划板的成像与自准直仪B的十字线偏移的角度即为被测望远镜的光轴在正倒镜状态下的变化量。

优选地，调整多维可调平台使得自准直仪B的光轴与可调反射镜垂直,通过被测望远镜检测自准直仪A的十字线在被测望远镜分划板的成像与被测望远镜内的十字线偏移的角度即为被测望远镜的光轴在正倒镜状态下的变化量。

优选地，自准直仪A和B的精度至少高于被测望远镜的光轴在正倒镜状态下的变化量指标一个数量级。

优选地，自准直仪A和自准直仪B相对放置在两个固定平台上，也可相对放置于中间带凹槽的一个固定平台上。

优选地，被测望远镜绕其光轴水平翻转180°后，需要在其悬空部分放置硬质支撑物，使得被测望远镜能够平稳的放置在多维可调平台上。

优选地，由于标校望远镜和标校电视的使用场合和工作原理基本一致，此方法也可用于检测标校电视在正倒镜状态下的光轴稳定性。

与现有技术相比，本发明的优点在于：

本发明通过自准直仪检测标校望远镜在正镜和倒镜两种状态下的光轴变化量，能有效降低标校望远镜光轴在正倒镜时的误差，从而提高望远镜光轴稳定性检测方法。

附图说明

图1为调整自准直仪光轴示意图。

图2为调整被测望远镜光轴与自准直仪光轴示意图。

图3为建立被测望远镜正镜状态下光轴基准示意图。