[发明专利]一种测试发控系统在审
申请号: | 201710937897.4 | 申请日: | 2017-09-30 |
公开(公告)号: | CN107505936A | 公开(公告)日: | 2017-12-22 |
发明(设计)人: | 李闯;李鹏;刘华峰;邓健辉;王亚杰;龙超;张婧;苏珊;董阳霞 | 申请(专利权)人: | 中国航天科技集团公司烽火机械厂 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 611100 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 系统 | ||
技术领域
本申请涉及测试发射研究技术领域,特别涉及一种测试发控系统。
背景技术
测试发控系统是对火箭、火箭弹等发射对象进行地面测试和发射测试的地面设备的总称,其广泛应用在航天、气象探测、空间探测等领域。
随着时代和科技的进步,现代社会对测试发控系统的可靠性和安全性的要求也越来越高。由于测试发控系统一般均应用于高成本、高技术含量、高危险的研究领域,是检测研究成果的重要一环,责任重大,因此,测试发控系统的可靠性与安全性不容有失。然而,在现有技术中,由于测试发控系统中硬件电路的固有缺陷,即主控芯片在上电复位后的一定时间内输出信号不稳定,导致测试发控系统可能会在主控制芯片上电复位期间出现误动作信号,使得发射对象上的电路系统意外上电,由此产生安全隐患。
可见,采用何种测试发控系统以提高可靠性和安全性是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
本申请的目的在于提供一种高可靠性和安全性的测试发控系统。
为解决上述技术问题,本申请提供一种测试发控系统,包括测试控制终端、主控制电路以及发射控制终端;
所述主控制电路的第一输入端和第二输入端分别与所述测试控制终端的输出端和所述发射控制终端的输出端连接,第一输出端与发射对象上的电路系统的输入端连接;用于根据所述测试/发射控制终端发送的测试/发射指令生成测试/发射控制信号,并发送至所述电路系统,以便对所述发射对象进行地面/发射测试;
其中,所述主控制电路包括主控芯片电路和延时输出电路,所述主控芯片电路的第一输入端和第二输入端分别作为所述主控制电路的第一输入端和第二输入端,所述主控芯片电路的输出端与所述延时输出电路的输入端连接,所述延时输出电路的第一输出端作为所述主控制电路的第一输出端。
可选地,所述主控制电路的第三输入端与所述电路系统的输出端连接,第二输出端与所述测试控制终端的输入端连接;用于将所述电路系统发送的地面测试结果信号发送至所述测试控制终端进行显示,以便用户获取地面测试的结果;
其中,所述主控芯片电路的第三输入端作为所述主控制电路的第三输入端;所述延时输出电路的第二输出端作为所述主控制电路的第二输出端。
可选地,所述主控制电路还包括隔离电路;
其中,所述延时输出电路的输出端与所述隔离电路的输入端连接,所述隔离电路的第一输出端作为所述主控制电路的第一输出端。
可选地,所述主控芯片电路的主控芯片为STM32F407。
可选地,所述延时输出电路为三态缓冲器延时输出电路。
可选地,所述三态缓冲器延时输出电路的高阻态延时时长为200ms。
可选地,所述发射控制终端具体用于:
在检测到所述发射控制终端的电源开关处于闭合状态且发射按钮被触按后,向所述主控制电路发送所述发射控制指令。
可选地,所述主控制电路与所述测试控制终端和所述电路系统之间采用CAN总线通信方式。
可选地,所述地面测试包括以下任意一项或者任意组合:
电压电流检测、通信功能测试和模拟飞行姿态测试。
可选地,所述测试控制终端还用于:
向所述主控制电路发送电源切换指令;
所述主控制电路还用于:
根据所述电源切换指令生成电源切换控制信号,并发送至所述电路系统,以便所述电路系统将供电电源切换为自载电源。
本申请所提供的测试发控系统包括:测试控制终端、主控制电路以及发射控制终端;所述主控制电路的第一和第二输入端分别与所述测试控制终端和所述发射控制终端的输出端连接,第一输出端与发射对象上的电路系统的输入端连接;用于根据所述测试/发射控制终端发送的测试/发射指令生成测试/发射控制信号,并发送至所述电路系统,以便对所述发射对象进行地面/发射测试;其中,所述主控制电路包括主控芯片电路和延时输出电路,所述主控芯片电路的第一和第二输入端分别作为所述主控制电路的第一和第二输入端,所述主控芯片电路的输出端与所述延时输出电路的输入端连接,所述延时输出电路的第一输出端作为所述主控制电路的第一输出端。
可见,相比于现有技术,本申请所提供的测试发控系统中,通过延时输出电路对主控制电路中的主控芯片电路进行延时输出保护,从而可以有效避免主控芯片在上电复位期间输出的不稳定信号令发射对象产生误动作,带来安全隐患。由此可见,本申请所提供的测试发控系统可以有效地提高安全性和可靠性。
附图说明
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