[发明专利]一种用于磁通门磁芯性能检测装置和方法在审

专利信息
申请号: 201710939994.7 申请日: 2017-10-11
公开(公告)号: CN107728093A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 赵琳;杜爱民;孙树全;张莹;冯晓;李智 申请(专利权)人: 中国科学院地质与地球物理研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京众达德权知识产权代理有限公司11570 代理人: 刘杰
地址: 100020 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 磁通门磁芯 性能 检测 装置 方法
【说明书】:

技术领域

本申请涉及磁通门磁强计制造领域,尤其涉及一种磁通门传感器磁芯性能检测装置和方法。

背景技术

磁通门磁强计是利用软磁材料的饱和特性敏感外磁场信号,低噪声传感器中广泛应用坡莫合金、非晶合金软磁材料,所选软磁材料的巴克豪森噪声最终决定了传感器的灵敏度和精度的极限,软磁材料热处理后的噪声、零场偏移、偏移稳定性、材料的均匀性和同质性、对横向场的不敏感性等参数特性将影响传感器的性能。

磁通门磁芯结构为分为棒状、跑道型和环形三类结构形式,其中环形是高精度磁通门磁强计的首选,软磁材料构成的环形磁芯的性能好坏直接影响着磁通门磁强计的性能,是整个磁强计的核心。

现有技术中,测磁芯性能在磁通门传感器组装前难以检测,而是通过磁通门磁强计后期的标定和最终性能指标来对磁芯性能进行评估,这样导致废品和残次品比较高。磁通门传感器组装工艺复杂,组装周期长,国外这种高精度传感器的成品筛选比是20:1。因此,如果在组装前不对磁芯筛选,成品率很低、也浪费了大量的资源。

发明内容

本申请解决的技术问题之一是通过提供一种用于磁通门磁芯性能检测的装置和方法,实现在磁通门组装前对磁芯性能的测试。

根据本申请一方面的一个实施例,提供了一种用于磁通门磁芯性能检测的装置,包括:

屏蔽筒,所述屏蔽筒为圆柱形,多层结构,每层均有上盖,所述多层屏蔽筒固定在支架结构上,用于屏蔽外界磁场的信号,在屏蔽筒内形成零场环境,所述屏蔽筒的材料为坡莫合金;

旋转单元,固定在支架结构上,包括电机和旋转轴,并通过旋转轴与检测平台相连,用于为检测平台提供旋转动力;

检测平台,固定在屏蔽筒内的旋转轴上,检测平台上有多组工装机构,用于安装待测磁芯,所述检测平台的材料是铝合金。

电路模块,包括激励模块、检测模块和控制模块。用于为旋转单元和检测平台供电并提供电信号通路,可采集检测平台的感应信号,同时可与上位机通信。

支架结构,与屏蔽筒、旋转单元和电路模块相连,用于为整个磁通门磁芯检测装置提供支撑结构。

优选的,所述磁芯检测装置还包括与所述电路模块相连的计算机装置,用于向电路模块发送指令。

优选的,所述旋转单元的电机通过变速齿轮组与旋转轴相连,所述变速齿轮组的变速档位可调。

优选的,所述检测平台可以安装多个待测磁芯。

根据本申请另一方面的一个实施例,提供了利用上述装置来检测磁通门磁芯性能的方法,包括:

(1)将待测磁芯固定在检测平台上;

(2)盖好屏蔽筒的上盖,确保屏蔽筒四周完全封闭;

(3)启动电路模块,输入交变激励电流;

(4)调节电路模块,使得待测磁芯周期性达到最佳饱和状态。

优选的,所述测试方法一次可测试多个待测磁芯。

优选的,启动电路模块后,继续启动旋转单元,带动待测磁芯绕旋转轴匀速转动。

本申请实施例利用磁通门磁芯性能检测装置,在磁通门传感器组装前就能够对磁芯性能进行测试,解决了组装后再测试所带来的成品率低、资源浪费多的问题。对结构组装复杂,工艺难度高的三轴同心结构磁传感器尤为适用。使用该技术能够大大缩减高精度三轴同心结构磁传感器的研制周期和研制成本,提高产量。

本领域普通技术人员将了解,虽然下面的详细说明将参考图示实施例、附图进行,但本申请并不仅限于这些实施例。而是,本申请的范围是广泛的,且意在仅通过后附的权利要求限定本申请的范围。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述,本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显:

图1是根据本申请一个实施例的磁通门磁芯性能检测装置结构示意图。

图2是根据本申请一个实施例的磁通门磁芯性能检测方法的流程图。

附图中相同或相似的附图标记代表相同或相似的部件。

具体实施方式

下面结合附图对本申请的技术方案作进一步详细描述。

图1是根据本申请一个实施例的磁通门磁芯性能检测装置结构示意图。本申请实施例的磁通门磁芯性能检测装置可在传感器组装前对磁通门磁芯性能进行检测,该检测装置包括:屏蔽筒、旋转单元、检测平台、电路模块、支架结构。

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