[发明专利]大口径系统的波前检测方法及系统

权利要求书

1.一种大口径系统的波前检测方法，其特征在于，包括以下过程：

在大口径系统的焦面处放置靶面，所述靶面的发射光依次经过半反半透平面镜和所述大口径系统出射至反射装置；

所述反射装置设置在所述大口径系统的出射口径前，且所述反射装置所在平面与所述大口径系统的光轴垂直，所述反射装置至少包括三条可相对旋转和相互重合的直导轨，且各个所述直导轨相互分散，每一所述直导轨上至少设置有两个用于对所述发射光进行折转的交错分布的五棱镜，每一所述直导轨在所述五棱镜的出射光方向的末端设置有一平面反射镜，所述五棱镜的出射光经对应的所述平面反射镜的反射后沿原光路返回至所述半反半透平面镜；每一所述直导轨上的所述五棱镜的交错分布方式相同，所述交错分布方式为相邻的任意两个所述五棱镜在所述直导轨的长度方向上的距离均相等，相邻的任意两个所述五棱镜在所述直导轨的宽度方向上的距离均相等，且任意两个所述五棱镜在所述直导轨的长度方向上和所述直导轨的宽度方向上均交错分布；

所述半反半透平面镜将沿原光路返回的所述五棱镜的出射光反射至角度位置测量及处理装置；

所述角度位置测量及处理装置获取各个所述五棱镜形成的靶面返回像，对每一所述直导轨上的全部所述五棱镜的所述靶面返回像进行数据处理，得到相应的质心位置信息，并根据所述质心位置信息进行波前重构，得到所述大口径系统的波前信息。

2.根据权利要求1所述的大口径系统的波前检测方法，其特征在于，

所述直导轨上设置有凹形直线轨道，每一所述凹形直线轨道内至多嵌入一个凸形滑块，所述五棱镜与所述凸形滑块的顶部固定连接，且所述凸形滑块在定位装置的作用下可在所述凹形直线轨道的任意位置固定。

3.根据权利要求1或2所述的大口径系统的波前检测方法，其特征在于，

任意相邻的两条所述直导轨的夹角均相等。

4.根据权利要求1或2所述的大口径系统的波前检测方法，其特征在于，

所述五棱镜为全反射五棱镜，且所述全反射五棱镜的棱长为20mm。

5.一种大口径系统的波前检测系统，其特征在于，包括靶面、半反半透平面镜、反射装置和角度位置测量及处理装置，所述反射装置至少包括三条可相对旋转和相互重合的直导轨，且各个所述直导轨相互分散，每一所述直导轨上至少设置有两个用于对所述靶面的发射光进行折转的交错分布的五棱镜，每一所述直导轨在所述五棱镜的出射光方向的末端设置有一平面反射镜，每一所述直导轨上的所述五棱镜的交错分布方式相同，所述交错分布方式为相邻的任意两个所述五棱镜在所述直导轨的长度方向上的距离均相等，相邻的任意两个所述五棱镜在所述直导轨的宽度方向上的距离均相等，且任意两个所述五棱镜在所述直导轨的长度方向上和所述直导轨的宽度方向上均交错分布；

所述靶面放置在大口径系统的焦面处，所述靶面的发射光依次经过所述半反半透平面镜和所述大口径系统出射至所述反射装置；

所述反射装置设置在所述大口径系统的出射口径前，且所述反射装置所在平面与所述大口径系统的光轴垂直，所述五棱镜的出射光经对应的所述平面反射镜的反射后沿原光路返回至所述半反半透平面镜；

所述半反半透平面镜将沿原光路返回的所述五棱镜的出射光反射至所述角度位置测量及处理装置；

所述角度位置测量及处理装置获取各个所述五棱镜形成的靶面返回像，对每一所述直导轨上的全部所述五棱镜的所述靶面返回像进行数据处理，得到相应的质心位置信息，并根据所述质心位置信息进行波前重构，得到所述大口径系统的波前信息。

6.根据权利要求5所述的大口径系统的波前检测系统，其特征在于，

所述直导轨上设置有凹形直线轨道，每一所述凹形直线轨道内至多嵌入一个凸形滑块，所述五棱镜与所述凸形滑块的顶部固定连接，且所述凸形滑块在定位装置的作用下可在所述凹形直线轨道的任意位置固定。

7.根据权利要求5或6所述的大口径系统的波前检测系统，其特征在于，

任意相邻的两条所述直导轨的夹角均相等。

8.根据权利要求5或6所述的大口径系统的波前检测系统，其特征在于，

所述五棱镜为全反射五棱镜，且所述全反射五棱镜的棱长为20mm。