[发明专利]一种自动化电子元器件测试机构

说明书

技术领域

本发明涉及电子元器件的检测设备领域，尤其涉及一种自动化电子元器件测试机构。

背景技术

目前，表面贴装型电子元器件引脚外观变形会导致产品在整机贴装焊接中出现开、短路的不良，所以产品在出厂前进行引脚外观尺寸的检测是必不可少的，检测项目必须包含平面度、正位度、排距、脚间距、脚宽度等参数。现有检测设备都存在精度和可靠性不高的问题，难以达到检测目的 ；而且检测效率很低，不能适应生产线产量大、效率高的要求。目前大部分厂家都是通过人工肉眼目测完成的，人工检测速度慢，可靠性差，容易漏检。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术的问题，提供了一种自动化电子元器件测试机构，通过移料装置套设于所述入料轨道来对待检测材料进行行为调整与行程控制，不仅能够对待检测材料有条不紊的控制，而且通过移料轨道与入料轨道的循环交替控制，使得待检测材料在入料轨道上前进的速度得到有效的控制，不会对正在检测的材料产生干扰，与传统吹气控制待检测材料前进相比，整体机构更加小型化，装运和安装更加方便快捷。

上述目的是通过以下技术方案来实现：

一种自动化电子元器件测试机构，包括入料轨道、移料装置、测试片和底座，所述入料轨道通过固定座与所述底座连接，所述移料装置套设于所述入料轨道外侧并通过气缸驱动，所述测试片安装于所述入料轨道的末端。

进一步地，所述移料装置包括相互对称的第一移料装置和第二移料装置，所述第一移料装置和所述第二移料装置通过所述入料轨道下方的移料装置固定座分别固定于所述入料轨道的两侧，所述移料装置固定座通过第一气缸与所述底座连接；在所述第一移料装置上设置有与所述入料轨道贴合的第一移料轨道，在所述第二移料装置上设置有与所述入料轨道贴合的第二移料轨道，所述第一移料轨道通过第一盖板与所述第一移料装置固定，所述第二移料轨道通过第二盖板与所述第二移料装置固定；所述第一移料轨道与所述第二移料轨道的两对应边相互接触。

进一步地，在所述第一移料装置上设置有第二气缸，所述第二气缸用于控制所述第一移料轨道前后移动；所述第一移料轨道和所述第二移料轨道上还设置有相互匹配的拨爪料槽，所述拨爪料槽用于夹持待检测材料。

进一步地，在所述入料轨道的入口设置有下料跳盖，用于对进入轨道的待检测材料进行位置校正。

进一步地，在所述下料跳盖的末端设置有检知器，所述检知器用于感知进入入料轨道的待检测材料。

进一步地，还包括挡料顶针，所述挡料顶针设置于所述第一移料装置上，用于对进入所述入料轨道的待检测材料进行阻挡。

进一步地，还包括下料顶针，所述下料顶针设置于所述第二移料装置上，用于对进入所述入料轨道的待检测材料进行固定。

进一步地，还包括近接开关，所述近接开关设置于所述第二移料装置上。

进一步地，所述测试片通过滑轨装置固定于所述入料轨道的末端，用于对待检测材料进行检测，所述滑轨装置通过第三气缸驱动。

有益效果

本发明所提供的一种自动化电子元器件测试机构，通过移料装置套设于所述入料轨道外侧来对待检测材料移动行为进行调整与控制，不仅能够对待检测材料有条不紊的控制，而且通过移料轨道与入料轨道的循环交替控制，使得待检测材料在入料轨道上前进的速度得到有效的优化，不会对正在检测的材料产生干扰，与传统吹气控制待检测材料前进相比，整体机构更加小型化，装运和安装更加方便快捷。

附图说明

图1为本发明所述一种自动化电子元器件测试机构的第一视角立体结构示意图；

图2为本发明所述一种自动化电子元器件测试机构的第二视角立体结构示意图；

图3为本发明所述一种自动化电子元器件测试机构的第三视角立体结构示意图；

图4为本发明所述一种自动化电子元器件测试机构的移料轨道第一种运动状态结构示意图；

图5为本发明所述一种自动化电子元器件测试机构的移料轨道第二种运动状态结构示意图；

图6为本发明所述一种自动化电子元器件测试机构的移料轨道第三种运动状态结构示意图。

具体实施方式

下面根据附图和实施例对本发明作进一步详细说明。

如图1所示，一种自动化电子元器件测试机构，包括入料轨道1、移料装置2、测试片3和底座4，所述入料轨道1通过固定座6与所述底座4连接，所述移料装置2套设于所述入料轨道1外侧并通过气缸5驱动，所述测试片3安装于所述入料轨道1的末端。